OLYMPUS奧林巴斯802PR-102探頭

接觸式探頭：接(ji♈e)(jie)觸(chu)式(shi)探(tan)頭(tou)(tou)是一個通常可生(sheng)成縱(zong)波且與被測樣(yang)件直(zhi)接(jie)(jie)接(jie)(jie)觸(chu)的單晶探(tan)頭(tou)(tou)。所有(you)接(jie)(jie)觸(chu)式(shi)探(tan)頭(tou)(tou)都裝有(yo🐷u)WC-5防磨面(mian)，不僅具有防磨效(xiao)果，可以延長探(tan)頭壽ไ命，還可以提供適(shi)合于(yu)大多數金屬的聲阻抗。更多參(can)數請資(zi)料工程師索要詳細

優勢特性：

1.所(suo)有款式探頭都(dou)可(ke)在惡劣的工業環境中使用

2.聲阻抗與大多數金屬接(jie)近(jin)匹(pi)配

3.可(ke)用于檢測(ce)各種材料(liao)

應用： 垂直聲(sheng)束缺(que)陷(xian)探(tan)測(ce)和厚度測(ce)量，分層缺(que)陷(xian)的(de)探(tan)測(ce)和定量，材料(liao)表征(zheng)和聲(sheng)速測(ce)量，檢測(ce)平板(ban)、鋼(gang)坯、棒材ꦚ、鍛件、鑄件、擠壓件以(yi)及其他各種金屬(shu)和非(fei)金屬(shu)部件，可在溫度高達50°C的材料上連續使用

雙晶探頭：雙晶探頭包含兩個縱(zong)波晶片(一個(ge)用作(zuo)發送(song)器(qi)，另一個(ge)用作(zuo)接收器(qi))，兩個晶𝔉片(pian)裝于(yu)同一個外殼(ke)中，但中間(jian)有一層隔音屏障。每個晶片(pian)都稍微(wei)向另(ling𓄧)一個晶片(pian)傾(qing)斜，目的(de)是使從工件底 面反彈(dan)的(de)信號以V形聲程傳播。雙(shuang)晶探頭在檢ﷺ測嚴重腐(fu)蝕(shi)的工件(jian)時一般都能提供更(geng)穩定的讀數(shu)，而 且還꧙可用(yong)于高溫(wen)環境。更多參(can)數請(qing)資(z🍬i)料(liao)工(gong)程師索要詳細

優勢特性：

1.改進(jin)了近表面分辨率

2.消(xiao)除了高溫應(ying)用中(zhong)加(jia)倍延遲塊(kuai)的需要

3.在粗糙或彎(wan)曲表面上的耦(ou)合效果好

4.降低了粗顆粒材料或(huo)散射材料中的直接背散射噪聲

5.結合了低(di)頻(pin)單(dan)晶超(chao)聲(s🔥heng)探頭的🔯穿透能力與高頻(pin)單(dan)晶超(chao)聲(sheng)探頭的近表面分辨率能力

6.可緊密(mi)貼(tie)附(fu)于曲面工件上

應(ying)用(yong)： 剩(sheng)余壁厚測(ce)量，腐(fu)蝕/侵(qin)蝕監控(kong)，焊(han)縫覆(fu)蓋和堆焊(han)層的粘合/脫粘(zhan)檢測，探測鑄件(jian)(jiꦰan)和鍛件(jian)(jian)中(zhong)的(de)多孔性、夾(jia)雜物、裂紋🔯(wen)及分層等(deng)缺(que)陷，探測螺栓或其他圓柱形(xing)部件(jian)(jian)中(zhong)的(de)裂紋(wen)；等(deng)于(yu)或小于(yu)5.0 MHz的超聲(sheng)探頭可承受的最高溫(wen)度為(wei)425°C； 7.5 MHz和10 MHz的超聲探頭可承受的最高(gao)溫度為175°C。 對于表面溫度(du)從(cong)90°C到425°C的(de)工(gong)(gong)件，建(jian)議使用的(de)工(go🌠ng)(gong)作周期(qi)為最多接觸10秒，然后(hou)至少在空(kong)氣(qi)中冷卻1分鐘（不(bu)適(shi)用于(yu)微型端(duan)部雙晶超聲探頭）

角(jiao)度聲束探頭：角度(du)聲束(shu)探頭(tou)是一(yi)種與楔塊一(yi)起使用ꦡ的單晶探頭(tou)，ไ可以所選(xuan)的角度(du)將縱波或橫波發射(she)到工件(jian)中。角度(du)聲束(shu)探頭(tou)可以對工件(jian)中垂直入射(she)接觸(chu)式(shi)探頭(tou)的超聲聲程無法(fa)到達的區域(yu)進行 檢測。角(jiao)(jiao)度聲(sheng)(sheng)束探(tan)頭一(yi)般用于焊縫檢測，因為如果使用標準(zhun)接觸(chu)式探(tan)頭，焊冠(guan)會擋住聲(sheng)(sheng)波(bo)༒，使聲(sheng)(sheng)波(bo)無法到達希望(wang)檢測的(de)(de)焊縫區域，而(er)且一(yi)般的(de)(de)缺(que)陷對準(zhun)操作會使角(jiao🐲)(jiao)度聲(sheng)(sheng)束產生(sheng)更強的(de)(de)反射信號。 更多參數請資(zi)料工程師索要詳細。

優(you)勢特性(xing)：

1.我們Accupath楔塊的三種材料(liao)設計提高了信噪比性能(neng)(neng)，同時還表現(xian)了出色的耐磨性能(neng)(n💟eng)

2.高溫楔塊可對(dui)高溫材料進行在役檢測(ce)

3.楔塊可自行定制，以創(chuang)建非(fei)標準的折射角度

4.提供(gong)可互換式或整體式設計

5.提(ti)供弧面外形(xing)

6.可提供鋁制帶(dai)有標準折射角度的楔塊和整(zheng)體式設計

應用(yong)： 缺(que)陷探測與定量(liang)，衍射(she)時(shi)差探頭(tou)，檢測管(guan)道、管(guan)材、鍛件、鑄件、機加(jia)工部件和結構(gou)部件，以探測到(dao)焊接꧒缺(que)陷或裂紋。

延遲塊探頭：延遲塊探頭為單晶寬帶(dai)接觸式(shi)探頭，其te殊的結(jie)構設計是在(zai)探頭晶片(pian)前插(cha)有塑料或(huo) 環氧材料制成的一個薄(bo)片(pian)。延遲塊改進𒀰了工件近表面缺陷的分(fen)辨率，可以測量(liang)更薄(bo)的材料厚度， 并(bing)能提供更(geng)jing確(que)的厚度測(ce)量結果。延遲塊可根(gen)據工件(jian)的表面幾何形狀緊貼在工件(jian)上，而且還可 用(yong)于ജ高(gao)溫應用(yong)中。更多參🐭數請資料工程師索要詳細(xi)。

優勢特(te)性：

1.高阻尼探頭加上(shang)延遲塊可以提(ti)供出色(se)的近場分辨率

2.更(geng)高的探頭頻率(lv)可提(ti)高分辨率(lv)

3.直(zhi)接接觸法(fa)的(de)(de)使用提高了測量薄材料及發現細小缺ᩚᩚᩚᩚᩚᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ𒀱ᩚᩚᩚ陷(xian)的(de)(de)能力

4.提供弧面外形，以適用于曲面工件

應用： 精確測(ce)厚(hou)，垂直聲束缺(que)陷探(tan)測(ce)，對接觸區(♌qu)域(yu)有限(xian)的工件進行檢測(ce)，可更(geng)換式延(yan)遲塊探(tan)頭，每個(ge)探(tan)頭的標準配置都包含(han)一(yi)個(ge)延(yan)遲塊和固(gu)定環(huan)，提供高溫延(yan)遲塊和干耦(ou)合延(yan)遲塊，探(tan)頭及(j🍃i)延(yan)遲塊端部之間需要耦(ou)合劑

保護面探頭(tou)：保護面探頭(tou)為一種帶(dai💮)有螺紋外(wai)殼護套的單晶縱波探頭(tou)，可以安裝延遲塊、防磨(mo)帽或 保護膜(mo)。這個(ge)特點增強了探頭的靈活通(tong)用性(ಌxing)，可ꦦ(ke)使這種(zhong)探頭用于范圍* 為廣泛的應用中🦂。 保護面探頭還(huan)可(ke)用作(zuo)直接(jie)接(jie)觸式(shi)探頭，檢(jian)測(ce)橡膠(🦋jiao)或塑料(liao)(liao)等低阻抗材料(liao)(liao)，以改進聲阻抗的匹(pi)配效果(guo)。更多參(can)數請資料(liao)(liao)工程師索要詳(xiang)細。

優勢特性：

1.通過提供可拆裝延遲塊、保護(hu)(hu)防磨帽和保護(hu)(hu)膜，使探頭具有廣泛的用途

2.探頭單獨使用時(shi)（沒(🏅mei)有任(ren)何選項），環(huan)氧防磨(mo)面可提供與塑料、多(duo)種復合材(cai)料及其(qi)他低阻抗(kang)材(cai)料相(xiang)匹配的優質聲阻抗(kang)

3.外殼上有螺紋，方便(bian)了(le)延(yan)遲(chi)塊、保護膜和防(fang)🌜磨(mo)帽的🌠安裝

應用(yong)： 垂直聲(sheng)束缺陷探測，厚(hou)度測量(liang)，高溫檢測，平板、坯材(🎐cai)、棒材(caiꦗ)及鍛件的(de)檢測

水浸探頭：水(shui)浸探頭為(wei)單晶縱波探頭，其防磨面具有與水(shui)匹配(pܫei)的(🐎de)阻抗(kang)。水(shui)浸探頭裝在密封外殼(ke) 中(zhong)，在(zai)(zai)與防水線纜一起使用(yong)時，可以浸泡在ꦏ(zai)(zai)水面以下。由于水浸探(tan)頭將水用(yong)作耦合(he)劑和延遲 塊，因(yin)此針對必須對工件(jian)施行持續耦合(he)的掃查應用(yong)來說，這種探(tan)頭是(shi)一種*的探(tan)頭(tou)。水浸探(tan)頭(tou)還 有一(yi)個附加(jia)選項，即(ji)可以通過增(zeng)加(jia)特定區域的聲(sheng)強(qiang)同時(shi)減少聲(she🐲ng)束焦(jiao)點大(da)小的方式將聲(sheng)束聚焦(jiao)。更多參數請資(zi)料工程師(shi)索要詳細。

優(you)勢特性：

1.水浸(jin)技術(shu)提(ti)供了一種(zhong)均勻耦合的方法

2.四分之(zhi)一波(bo)長匹配層增加了聲能的輸出

3.防腐蝕303不(bu)銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅連接器

4.射頻屏蔽(bi)功能可提高關鍵(jian)性應用的信噪比(bi)

5.除了筆刷式(shi)探頭以外，所有水浸式(sh💖i)探頭都可進(jin)行球形（點）或(huo)圓柱形（線(xian)）聚(ju)焦

6.聚焦長度會使聲束更集(ji)中，以提高檢測小反射體(ti)的(de)靈敏度

應用： 自動掃✃(sao)查，在(zai)線厚度(du)測量，高(gao)速(su)探(tan)測管道、棒材、管材、平板及其他類似部(bu)件中(zhong)的缺(que)陷，基于渡越時(shi)間和(he)(he)波(bo)幅的成像功能，穿(chuan)透檢測，材料分析和(he)(he)聲速(su)測🌳量

使用注意事項：探頭浸于水中的時間(jian)不能超過8小時。探(tan)頭需(xu)要有16小(xiao)時的干燥時間，以(yi)保證其使用(yong)壽命。

高頻(pin)探頭(tou)：高頻(pin)探(tan)頭(tou)包括延遲塊(kuai)探(🧸tan)頭(tou)和聚焦(jiao)水(shui)浸探(tan)頭(tou)。這些探(tan)頭(tou)的(de)頻(pin)率(lv)范圍在(zai)20 MHz至225 MHz之間。高頻延(yan)遲塊探(tan)頭可(ke)以對(dui)厚度薄如0.010毫米(mi)(0.0004英寸(cun))的材料進行厚(hou)度測(ce)量(取決(jue) 于材料、探頭、表面條件(jian)、溫度和設置)。高頻(pin)聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性(xing) 的(de)(de)薄材(cai)料進行(xing)高分辨(bian)率成像和缺陷探🅠測(ce)應用的(de)(de)*探頭。更(geng)多(duo)參數(shu)請資料工程師索要詳(xiang)細

優(you)勢特性(xing)：

1.高阻尼(ni)寬帶設(she)計提(ti)供了(le)出(chu)色的時間分辨(bian)率

2.較短的波長，可獲得缺(que)陷(xian)分辨率能力(li)強

3.聚焦(jiao)性能可以形成直徑非常小的聲束

4.頻(pin)率范(fan)圍為20 MHz到225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯802PR-102探頭