OLYMPUS奧林巴斯7.5L60-60X10-PWZ1-P-0.6-OM探頭

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接觸式探(tan)頭：接觸式探🤪頭(tou)(tou)是(shi)一(yi)個通常(chang)可(ke)生成縱波(bo)且與(yu)被(bei)測樣(yang)件♛直接接觸的單(dan)晶探頭(tou)(tou)。所有接觸式探頭(tou)(tou)都裝有WC-5防磨面(mian)，不僅具(ju)有防磨效果，可(ke)以延長探頭壽命，還可(ke)以提供ꩵ適合于大多(duo)數(shu)金屬的聲阻抗。更多(duo)參(can)🗹數(shu)請資料工程師索要詳細

優勢特性：

1.所有(you)款式(shi)探頭都可(ke)在惡劣的工業環境(jing)中使用

2.聲(sheng)阻抗與大(da)多數金屬接近匹配(pei)

3.可用于檢測各種材料

應(ying)用(yong)： 垂直(zhi༒)聲(sheng)束缺陷探測和厚度測量(liang)(liang)，分(fen)層缺陷的探測和定量(liang)(liang)，材料表征和聲(sheng)速測量(liang)(liang)，檢(jian)測平板、鋼坯(pi)、棒材、鍛件、鑄件、擠壓件以及其(qi)他(ta)各種金屬🌸(shu)和非金屬(shu)部件，可在(zai)溫度高達50°C的材(cai)料上連續(xu)使用

雙晶探(tan)頭：雙晶探頭包含兩個縱波晶片(一個用作(zuo)發送器(qi)，另(ling)一個用作(zuo)接收器(qi))，兩(liang)個(ge)晶片(pian)(pian)裝(zhuang)于同一個(ge)外殼中，但中間有一層(ceng)隔音屏(ping)障(zhang)。每個(ge)晶片(pian)(pian)都稍微向另一個(ge)晶片(pian)(piꦆan)傾斜，目(mu)的是使(shi)從工件(jian)底 面反彈的信(xin)號以V形聲程傳播。雙晶探頭在(zꦅai)檢測嚴重腐蝕(shi)的(de)工件時一般都能提供更穩定的(de)讀數，而(er) 且(qie)還可用于高溫環(huan)境。更多參數(shu)꧃請資料(liao)工程(cheng)師(shi)索要詳ﷺ(xiang)細(xi)

優(you)勢特性(xing)：

1.改進了近表面(mian)分辨率(lv)

2.消除了高溫應用中加(jia)倍延遲(chi)塊的需要

3.在(zai)粗糙或(huo)彎曲表(biao)面上的耦合效(xiao)果好

4.降低了粗顆粒(li)材(cai)料或散射材(cai)料中(zhong)的直接背散射噪聲

5.結合(he)了低頻單(dan)晶超聲探(tan)🔯頭(tou)的穿(chuan)透能力與高頻💟單(dan)晶超聲探(tan)頭(tou)的近表面分辨率能力

6.可緊密貼附于曲面(mian)工(gong)件上

應用： 剩余(yu)壁厚測量，腐蝕/侵蝕(shi)監控，焊縫覆蓋和堆焊層的(de)粘合/脫粘檢(jian)測，探(tan)測鑄(zhu)件和鍛件中的(de)多(duo)孔性、夾雜(za)物、裂紋及分層等(deng)(deng)缺陷，探(tan)測螺栓或(huo)其他圓柱形部⛄件中的(de)裂紋；等(deng)(deng)于或(huo)小于5.0 MHz的(de)超聲探(tan)頭(tou)可(ke)承受的(de)最高溫度為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的超聲探(tan)頭可承受的最高溫度為175°C。 對于表面溫度從90°C到425°C的(de)工件，建(jian)議使用的(de)工作周期為(wei)最多接(jie)觸10秒，然后至(zhi)少(shao)在空(kong)氣中冷卻1分鐘൲（不適用(yong)于微(wei)型(xing)端部(bu)雙晶🐟超(chao)聲探頭(tou)）

角度聲束探頭：角度聲(sheng)束探頭(tou)(tou)是一(yi)種與楔塊一(yi)起使用(yong)的(de)單晶(jing)探頭(tou)(tou)，可(ke)以所選的(de)角度將縱波或橫波發射到♏工件中。角度聲(sheng)束探頭(tou)൲(tou)可(ke)以對工件中垂直入射接觸式探頭(tou)(tou)的(de)超(chao)聲(sheng)聲(sheng)程(cheng)無法到達的(de)區域進行 檢測(ce)。角(jiao)度聲(sheng)(shen🌃g)束探頭(tou)一般(ban)用于焊縫(feng)檢測(ce)，因為如果使(shi)用標準(zhun)接觸(chu)式(shi)探頭(tou)，焊冠(guan)會擋住聲(sheng)(sheng)波(bo)，使(shi)聲(sheng)(sheng)波(bo)無(wu)法到達希望檢測(ce)的焊縫🍨(feng)區域，而且一般(ban)的缺陷對準(zhun)操作會使(shi)角(jiao)度聲(sheng)(sheng)束產生更強的反射信號。 更多參(can)數請資料工程(cheng)師索要詳(xiang)細(xi)。

優勢(shi)特性：

1.我們Accupath楔塊的(de)三種材料設計提高了信(xin)噪比性(xing🦩)能(neng)，同時還表現了出(chu)色的(de)耐磨性(xin🦩g)能(neng)

2.高溫(wen)楔塊可對(dui)高溫(wen)材料進行在役(yi)檢測

3.楔塊可自(zi)行(xing)定制，以(yi)創建非標準的(de)折射角度(du)

4.提供可(ke)互換式(shi)或整體式(shi)設計

5.提供弧面(mian)外形(xing)

6.可提供鋁制帶有標(biao)準折射角度(du)的楔塊和整體(ti)式設計(ji)

應用： 缺陷探(tan)測與定量，衍射時差探(tan)頭(tou)，檢測管(guan)道、管(guan)材(cai)、鍛件(jian)、💛鑄(zhu)件(jia🐭n)、機加工部件(jian)和結構部件(jian)，以探(tan)測到焊接缺陷或裂紋。

延遲塊探頭：延遲(chi)塊探頭(tou)為單晶寬帶接觸式探頭(tou)，其te殊的結構設計是在探頭晶片前插有🐻塑料或 環氧材(cai)料制成的一個薄(bo)片。延遲塊改進了(le)工件近表面(mian)缺陷的分(fen)辨(bian)率(lv)，可以測量更薄(bo)的材(cai)料厚度， 并能(neng)提供更jing確的厚度(du)測量結果(guo)。延(yan)遲(c⭕hi)塊可根據工(gong)件的表(biao)面幾何(he)形(xing)狀(zhuang)緊貼在工(gong)件上(shang)，而且還可 用于高溫應(ying)用中。更多參數請資料工(gong)程(cheng)師索要詳細(xi)。

優勢特性：

1.高(gao)阻尼(ni)探頭(tou)加上延遲塊可以提(ti)供出(chu)色的近場分辨率

2.更高(gao)的(de)探頭(tou)頻率(lv)可提(ti)高(gao)分(fen)辨率(lv)

3.直接接觸法的使用(yong)提高了測量薄材(cai)料及發現細(xi)小缺(que)陷的能力

4.提(ti)供弧面外(wai)形(xing)，以適用于曲面工件(jian)

應用： 精確(que)測(ce)厚，垂直ꦰ聲束缺陷探(tan)(tan)測(ce)，對接觸區域有(you)限的工件進行檢(jian)測(ce)，可(ke)更換式(shi)延(yan)(yan)遲(chi)塊探(tan)(tan)頭(tou)，每(mei)𒉰個(ge)探(tan)(tan)頭(tou)的標準配置都包含一個(ge)延(yan)(yan)遲(chi)塊和(he)固定環，提供高溫(wen)延(yan)(yan)遲(chi)塊和(he)干耦合延(yan)(yan)遲(chi)塊，探(tan)(tan)頭(tou)及延(yan)(yan)遲(chi)塊端部之(zhi)間需要耦合劑

保護(hu)面探頭：保護面(mi⛎an)探頭(tou)為一種(zhong)帶有螺紋外殼護套的單(dan)晶縱(zong)波探頭(tou)，可以安(an)裝延(yan)遲(chi)塊、防(fang)磨帽(mao)或 保護膜。這個(ge)特點增強了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍* 為(wei)廣(guang)泛的應(ying)用中。 保護面探頭(tou)還(huan)可用作直接(jie)接(jie)觸式探頭(tou)，檢測橡(xiang)膠或(huo)塑料等低(di)阻(zu)抗材料𒆙，以(yi)改(gai)進聲🍌(sheng)阻(zu)抗的匹配效(xiao)果。更多(duo)參(can)數請資料工程師(shi)索要詳(xiang)細。

優勢特性：

1.通(tong)過提♔(ti)供可拆裝(zhuang)延遲塊、保護防磨帽和保護膜，使探(tan)頭具有廣ꦑ泛(fan)的用途

2.探頭單獨(du)使用時(shi)（沒有(youꦗ)任何選項(xiang)），環氧防磨(mo)面可(ke)提(ti)供與塑料(lia♊o)、多種復合材料(liao)及其他低阻抗材料(liao)相匹配的優質聲阻抗

3.外殼上有螺(luo)紋，方便了延(yan)遲塊、保護(hu)膜和防磨帽的安(an)裝(zhua🐈ng)

應(ying)用： 垂直聲(sheng)束缺陷探測(ce)，厚度測(ce)量，高溫檢(jian)測(c♛e)，平板、坯(pi)材、棒材及鍛(duan)件的檢(jian)測(🐻ce)

水浸探頭：水(shui)(shui)浸探頭(tou)為單晶縱(zong)波探頭(tou)，其防(fang)磨🐼面具有(you)與水(shui)(shui)匹配(pei)的阻抗。水(shui)(shui🎶)浸探頭(tou)裝在密封外殼(ke) 中，在(zai)與防水(shui)(shui)線纜一起使用時，可以浸泡在(zai)水(shui)(shui)面以下。由于水(shui)(shui)浸探頭(tou)將水(shui)(shui)用作耦合劑(ji)和延(yan)遲 塊，因(yin)此針(zhen)對必(bi)須對工件(jian)施行持續(xu)耦合的掃(sao)查應(ying)用來說(shuo)，這(zh🍒e)種(zhong)探頭(tou)是(shi)一種(zhong)*的探(tan)頭。水(shui)浸探(tan)頭還 有一個附加(jia)(ꦺjia)選項，即可以通過(guo)增加(jia)(jia)特定(ding)區(qu)域的聲強同時減少聲束焦(j♐iao)點大小的方式將聲束聚焦(jiao)。更多參(can)數請資(zi)料工程師索要(yao)詳(xiang)細。

優(you)勢特(te)性：

1.水浸技術提供了一種(zhong)均勻耦合的(de)方法

2.四分(fen)之(zhi)一波長匹配層增(zeng)加了聲能的輸出(chu)

3.防腐(fu)蝕303不銹鋼外殼帶(dai)有鍍鉻黃銅連(lian)接器

4.射頻屏蔽功能可(ke)提高(gao)關(guan)鍵(jian)性(xi🌺ng)應(ying)用的信噪比(bi)

5.除了筆刷(shua)式探(tan)(tan)頭(tou)以外(wai)，所(suo)有水浸(jin)式探(tan)(tan)頭(tou)都可進(jin)行球形(xing)（點）🅘或圓(yuan)柱形(xing)（線）聚焦

6.聚(ju)焦長度會使(shi)聲束更集中，以提高檢(jian)測小反射體的靈敏度

應(ying)用： 自(zi)動掃查，在線厚度測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)，高速探測(ce)(ce)(ce)(ce)管道、棒材、管材、平板及其他類似(si)部(bu)件(jian)中的缺(que)陷，基于渡越時間和波(bo)幅的成像功能，穿透檢測(ce)(ce)(ce)(ce)，材料(liao)ꦚ分析和聲(sheng)速測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)

使用注意事項：探頭浸(jin)于水中的(de)時間不能超過8小時(shi)。探頭(tou)需(xu)要有16小時的干燥時間，以保(bao)證(zheng)其使(shi)用壽命。

高(gao)頻(pin)探頭：高頻探頭(tou)(tou)(tou)包(bao)括延遲塊(kuai)探頭(tou)(tou)(tou)和聚焦水浸探頭(tou)(tou)(♒tou)。這些探頭(touꩵ)(tou)(tou)的頻率范圍(wei)在20 MHz至225 MHz之間。高(gao)頻延遲(chi)塊探頭可以對厚度(du)薄如0.010毫米(mi)(0.0004英寸)的材料進(jin)行厚度(du)測量(取決 于(yu)材料、探頭、表面條件、溫度和設置)。高頻(pin)聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性(xing) 的薄材料進行(xing)高分辨(bian)率(lv)成像和缺(que)陷探測應用的*探頭(tou)。更多參數請(qing)資料(liao)工程⛄(cheng)師索要(yao)詳(xiang)細

優勢特(te)性：

1.高阻尼(ni)寬帶設計提(ti)供了出色的時間分辨率

2.較短的波長，可獲得缺陷分(fen)辨率(lv)能力(li)強

3.聚焦性能(neng)可以形成直(zhi)徑(jing)非常小的聲(sheng)束

4.頻(pin)率范(fan)圍為20 MHz到(dao)225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯7.5L60-60X10-PWZ1-P-0.6-OM探頭