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SA10P-N55SCID199mm探頭

產品時間:2023-03-24

簡要描述:

OLYMPUS奧林(lin)巴斯SA10P-N55SCID199mm探(tan)༺(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、角(jiao)度聲(sheng)束(shu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)和(he)楔(xie)塊(kuai)、歐洲標準探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、AWS探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)和(he)楔(xie)塊(kuai)、接觸(chu)式探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、延遲塊(kuai)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、雙晶探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、EMAT探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、高頻(pin)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、水浸式探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、整合角(jiao)度聲(sheng)束(shu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、垂直入射橫波(bo)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、保護面(mian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、RTD探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭🐟(tou)(tou)(tou)(tou)、點焊探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、標準角(jiao)度聲(sheng)束(shu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)、TOFD探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)和(he)楔(xie)塊(kuai)


OLYMPUS奧林巴斯SA10P-N55SCID199mm探頭

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奧林巴斯探頭.jpg


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接觸式探頭(tou)接(jie)觸式探頭是一個通常可生(sheng)成縱波且與被測樣件直接(jie)接(jie)觸的單晶探頭。所有接(jie)觸式探𒅌頭都裝有WC-5防磨(mo)面(mian),不(bu)僅具(ju)有防磨(mo)效果,可以延(yan)長(chang)探頭壽命,還可以提供(gong)適合于(yu)大(da)多數(sh🍌u)金屬的聲阻抗。更多參數(shu)請資(zi)料工程師索要詳細

優勢特性:

1.所有款式(shi)探頭都可(ke)在惡劣的工業環境中(zhong)使用

2.聲阻抗與大多數金(jin)屬接近匹配

3.可(ke)用于(yu)檢測各種材(cai)料

應用: 垂直(zhi)聲💛束缺陷探測(ce)和厚度測(ce)量,分層缺陷的探測(ce)和定量,材料表征和聲速測(ce)量,檢測(ce)平板、鋼坯、棒材、鍛(duan)件(jian)(jian)、鑄件(jian)(jian)、擠壓件(jian)(jian)以及其他各種(zhong)金屬和非(fei)金屬部件(jian)(jian),可(ke)在溫度高達(da)50°C的材料(liao)上連續使用(yong)

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雙晶探頭(tou):雙晶探頭包含兩個縱(zong)波晶片(一個(ge)用作發送器,另一個(ge)用作接收器),兩個晶(jing)片裝于同一(yi)(yi)個外殼中,但中間有一(yi)(yi)層隔音屏障。每個晶(jing)片都稍微向(xiang)𓆏另(ling)一(yi)(yi)個晶(jing)片傾斜,目(mu)的是使從工件底 面(m💝ian)反彈的信號(hao)以V形聲程(꧋cheng)傳播(bo)。雙晶探頭在檢測嚴重(zhong)腐(fu)蝕的工件(jian)時一般(ban)都能提供更穩定的讀數(shu),而 且(qie)還可用于高溫環(huan)境。更多參數請資料工程師(shi)索要詳細

優勢(shi)特性:

1.改進(jin)了近表面分辨(bian)率

2.消除了高(gao)溫(wen)應(ying)用(yong)中(zhong)加倍延遲塊的需(xu)要

3.在粗糙或彎曲表面上的耦(ou)合效果好(hao)

4.降低了粗顆粒材料(liao)(liao)或散射材料(liao)(liao)中(zhong)的直(zhi)接𒐪背散射噪聲

5.結合(he)了低(di)頻(pinꦕ)單(dan)晶(ji༺ng)超聲(sheng)探(tan)頭(tou)的穿透能力(li)與高頻(pin)單(dan)晶(jing)超聲(sheng)探(tan)頭(tou)的近表面分辨率能力(li)

6.可緊密(mi)貼附于曲(qu)面工件(jian)上

應(ying)用(yong): 剩余(yu)壁厚測(ce)量(liang),腐蝕/侵蝕監(jian)控,焊縫覆蓋和(he)堆焊層的粘(zhan)合/脫粘(zhan)檢測(ce),探(tan)測(ce)鑄件和鍛件中(zhong)的多(duo)孔性、夾雜物、裂紋(we💛n)及分層等(deng)缺(que)陷(xian),探(tan)測(ce)螺栓或其(qi)他(ta)圓柱形部件中(zhong)的裂紋(wen);等(deng)于(yu)或小于(yu)5.0 MHz的(de)超聲探頭可承受(shou)的(de)最高溫度為425°C7.5 MHz10 MHz的超聲探頭可(ke)承受的最高溫度為175°C。 對于表(biao)面溫度從90°C到(dao)425°C的(de)工件,建議(yi)使用的(de)工作(zuo)周期(qi)為最(zui)多接(jie)觸10秒,然(ran)后至少在空氣(qi)中冷卻1分(fen)鐘(不適用于微型(xing)端部雙晶超聲探頭)

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角度(du)聲束探頭:角(jiao)度聲束探(tan)頭是(shi)一(yi)種與(yu)楔塊🍸一(yi)起使用的單晶探ဣ(tan)頭,可以所(suo)選的角(jiao)度將縱波(bo)或橫波(bo)發射到工件中(zhong)。角(jiao)度聲束探(tan)頭可以對工件中(zhong)垂直入(ru)射接觸式探(tan)頭的超聲聲程無(wu)法(fa)到達的區域進行 檢(jian)測。角度聲束探(tan)頭(tou)一(yi)(yi)般(ban)用(yong)于焊(han)(han)縫(feng)檢(jian)測,因為如果使(shi)用(yong)標準(zhun)(zhun)接(jie)觸式(shi)𝓀探(tan)頭(tou),焊(han)(han)冠會(hui)擋住(zhu)聲波(bo),使(shi)聲波(bo)無(wu)法到達希望(wang)檢(jian)測的焊(han)(han)縫(feng)區域,而(er)且一(yi)(yi)般(ban)的缺陷(xian)對準(zhun)(zhun)操作(zuo)會(hui)使(shi)角度聲束產生更強(qiang)的反(fan)射(she)信號。 更多參數請資料(liao)工(gong)程師索要詳細。

優(you)勢特性:

1.我們Accupath楔塊的三(san)種材料設計提高了信噪(zao)比性(xing🅺)能,同時還表現了出色的耐磨性(xing)能

2.高(gao)溫(wen)楔(xie)塊可對高(gao)溫(wen)材料進行在役檢測

3.楔塊(kuai)可(ke)自行定制,以創(chuang)建(jian)非標(biao)準的折射角度

4.提供可(ke)互換(huan)式(shi)或整體(ti)式(shi)設計(ji)

5.提供弧(hu)面(mian)外(wai)形

6.可提供鋁制帶有(you)標ꦕ準折射角(jiao)度的楔(xie)塊(kuai)和整體(ti)式設計(ji)

應用(yong): 缺陷🔥(xian)探測與(yu)定量,衍射時差(cha)探頭,檢測管道、管材、鍛件、鑄(zhu)件、機加工部件和(he)結構部件,以探測到(dao)焊ꦕ接(jie)缺陷(xian)或裂紋。

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延遲(chi)塊探頭:延遲塊探頭為單晶寬帶接觸(chu)式探頭,其(qi)te殊的結構設計是在探頭晶片(pian)前插有塑料(liao)或(huo) 環(huan)氧材料(liao)制成(cheng)的一個薄片(pian)。延遲塊(kuai)改進了🌄工件(jian)近(jin)表(biao)面缺陷(xian)的分辨率,可以(yi)測量更薄的材料(liao)厚度, 并能(neng)提供更jing確的厚(hou)度(du)測(ce)量結果。延遲塊可根據(ju)工件的表面幾何(he)形狀緊(jin)貼在🐼工件上,而且還可 用(yong)于高溫(wen)應用(yong)中。更多參數請資料工程師索要詳🌞細。

優勢特性:

1.高阻尼(ni)探頭(tou)加上(shang)延遲塊可以提供出(chu)色的近場分辨率

2.更(genꦅg)高(gao)的探(tan)頭(tou)頻率(lv)可提高(gao)分(fen)辨率(lv)

3.直接接觸法的使用提(ti)高了測(ce)量薄材(cai)料ꦛ及發現細小缺陷(xian𝔍)的能(neng)力

4.提供弧面外形,以(yi)適用于(yu)曲面工件

應用(yong): 精確(que)測(ce)厚(hou),垂(chui)直聲(sh𝐆eng)束缺陷探(tan)測(ce),對接(jie)觸(chu)區域有限的工件(jian)進(jin)行檢測(ce),可更換式延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)探(tan)頭,每個探(tan)頭的標準(zhun)配置都包含一(yi)個延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)和固定環,提(ti)供高溫延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)和干耦合(he)延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai),探(tan)頭及延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)端部之(zhi)間需要耦合(he)劑(ji)

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保護面(mian)探頭:保護面探💦頭(tou)為一種(zhong)帶有螺紋外殼護套的單晶縱波(b🐟o)探頭(tou),可以安裝延遲塊、防(fang)磨帽或(huo) 保護(hu)膜。這個特點增強了探頭的靈活通用性,可使這種(zhong)探頭用于范圍* 為廣泛的(de)應用中。 保護(hu)面探頭還可(ke)用作直接(jie)接(jie)觸式探頭,檢測橡膠或塑料等低阻(zu)(zu)抗(kang)材料,以(yi)改進聲(she🐷ng)阻(zu)(zu)抗(kang)的(de)匹配效果。更多參數請資(zi)料工程師索要詳細。

優勢特性:

1.通(tong)過提供(gong)可拆(chai)裝(zhuang)延遲塊、保護防磨帽和保護膜(m🦹o),使(shi)探頭具有廣泛(fan)的用途

2.探頭單獨使用時(沒(mei)有ꦰ任何(he)選項),環氧(yang)防磨面可(ke)提供與塑料(liao)、多種復(fu)合材(cai)料(liao)及其他低阻抗材(cai)料(liao)相匹配(pei)的優質聲(sheng)阻抗

3.外殼上有螺紋,方便了延(yan)遲塊、保護(hu)膜和防磨帽的(de)安裝

應用: 垂(chui)直聲束缺陷(xi🗹an)探(tan)測(ce),厚度(du)測(ce)量,高(gao)溫檢測(ce),平板、坯材、棒材及鍛件的檢測(ce)

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水(shui)浸探頭:水浸(jin)探頭為單晶縱(zong)波探頭,其防磨面具有與水匹配(pei)的阻(zu)抗。水浸(jin)探頭裝(zhuaꩵng)在(zai)密封外(wai)殼(ke) 中,在與防水線纜一起使用時,可(ke)以浸(jin)(jin)泡(pao)在水面以下(xia)。由于水浸(ji𓂃n)(jin)探頭(tou)將水用作(zuo)耦合劑和延遲 塊,因(yin)此針對(dui)必須對(dui)工(gong)件(jian)施行持(chi)續耦合的掃查應用來說(shuo),這種探頭(tou)是一種*的(de)探頭。水浸探頭還(huan) 有(you)一(yi)個附(fu)加選項,即可以通過增加特定區(qu)域的(🐠de)聲強(qiang)同時(shi)減少(shao)聲束焦(jiao)點大小(xia🥃o)的(de)方式將聲束聚焦(jiao)。更多(duo)參數請資(zi)料工(gong)程師索要詳細。

優(you)勢(shi)特性:

1.水浸技術提供(gong)了(le)一(yi)種(zhong)均勻耦合的方法

2.四分之(zhi)一波長匹配層增加了聲能的輸出

3.防(fang)腐蝕303不(bu)銹鋼外殼帶有鍍鉻黃(huang)銅連接(jie)器

4.射頻屏蔽功能(neng)可提高關鍵性應(ying)用的信噪比

5.除𒅌(chu)了筆刷式探(tan)頭以(yi)外(wai),所有水浸式探(tan)頭都可進(jin)行球形(xing)(點)或圓柱形(xing)(線)聚焦

6.聚焦(jia♔o)長度(du)會使聲束更集中,以提高(gao)檢(jian)測小反射體(ti)的靈(ling)敏(min)度(du)

應用: 自動掃(saoﷺ)查,在線(xian)厚度(du)測(ce)(ce)量(liang),高速探測(ce)(ce)管(guan)道、棒材(cai)、管(guan)材(cai)、平板及其他類似(si)部件中(z𓆉hong)的(de)缺陷,基于渡越時(shi)間和(he)波幅的(de)成(cheng)像功能,穿透(tou)檢測(ce)(ce),材(cai)料分析和(he)聲速測(ce)(ce)量(liang)

使用注意事項:探頭浸于(yu)水中(zhong)的(de)時間不(bu)能超過8小時。探頭需要有16小時的(de)干燥時間,以保(bao)證(zheng)其使用壽命。

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高(gao)頻探頭(tou):高頻探(tan)頭(tou)包(bao)括延遲塊探(tan)頭(tou📖)和(he)聚焦水浸探(tan)頭(tou)。這(zhe)些探(tan)頭(tou)的頻率范圍在20 MHz225 MHz之間。高頻延遲塊(kuai)探頭可以對厚(hou)度薄如0.010毫米(mi)(0.0004英寸)的材料進行厚度測量(取決(jue) 于材料、探頭、表面(mian)條件、溫度和設置)。高(gao)頻聚焦水浸(jin)探頭是對硅制微型芯片等(deng)具(ju)有低(di)衰⛄減(jian)性 的(de)薄材料進行(xing)高分辨率成像和(he)缺陷探測(ce)應用的(de)*探頭。更多參數請資料(liao)工程師索(suo)要詳(xiang)細(xi)

優(you)勢(shi)特性:

1.高(gao)阻尼(ni)寬帶設(she)計提供了出(chu)色的時(shi)間分辨率

2.較短的波長,可獲得(de)缺陷(xian)分(fen)辨(bian)率(lv)能(neng)力強

3.聚焦性能可以形成直徑非(fei)常小的聲束(shu)

4.頻率范圍為20 MHz225 MHz


OLYMPUS奧林巴斯SA10P-N55SCID199mm探頭

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