OLYMPUS奧林巴斯RR0110-1-TF渦流探頭

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接觸式探頭(tou)：接(jie)(jie)觸式探ꦑ頭(tou)(tou)是一個通常可生成縱波且與被測樣件(jian)直接(jie)(jie)接(jie)(jie)觸的單晶(jing)探頭(tou)(tou)。所有(you)接(jie)(jie)觸式探頭(tou)(tou)都裝有(you)WC-5防磨面，不(bu)僅(jin)具有(you)防磨效果，可以延(yan)長探頭壽命，還可以提供(gong)適(shi)合于大多數金屬的聲阻抗。更(geng)多參數請(qing)資(zi)料工程💜師索要詳細

優(you)勢特性(xing)：

1.所有款式(shi)探頭都可在惡劣的工業環境中使用

2.聲阻抗(kang)與大多(duo)數(shu)金屬接近匹配(pei)

3.可用(yong)于檢測各種(zhong)材料

應用： 垂直聲束缺陷探測和厚(hou)度(du)測量，分層(ceng)缺陷的探測和定量，材(cai)料♎(liao)表征和聲速測量，檢測平(ping)板、鋼坯、棒材(cai)、鍛件(jian)、鑄件(jian)、擠(ji)壓件(jian)以及其他各種金(jin)屬(shu)和非金(jin)屬(shu)部(bu)件(jian)，可在溫度(du)高(gao)達(da)50°C的(de)材料上連(lian)續(xu)使用(yong)

雙晶探頭：雙晶探頭(tou)包含兩個縱(zong)波晶片(pian)(一個(ge)用(yong)作(zuo)(zuo)發送器，另一個(ge)用(yong)作(zuo)(zuo)接收(🐓shou)👍器)，兩個(🐬ge)(ge)晶(jing)片裝(zhuang)于同一個(ge)(ge)外殼中，但(dan)中間有(you)一層(ceng)隔(ge)音屏障。每個(ge)(ge)晶(jing)片都稍微向另一個(ge)(ge)晶(jing)片傾(qing)斜，目的是使從工件底 面反彈(dan)的信(xin)號(hao)以🐻(yi)V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴(yan)重(zhong)腐蝕的工ꦫ𒉰件時一般都能提(ti)供(gong)更穩(wen)定的讀數，而 且還可用于(yu)高(gao)溫環境。更(geng)多參(can)數請資料(liao)工程師(shi)索(suo)要詳細(🦂xi)

優勢(shi)特性：

1.改進了近(jin)表(biao)面(mian)分辨率

2.消(xiao)🍷除了高溫(wen)應(ying)用(yong)中加倍延(yan)遲塊的(de)需(xu)要

3.在粗糙或彎曲表面(mian)上的耦合效果好

4.降低了粗顆粒材(caiᩚᩚᩚᩚᩚᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ𒀱ᩚᩚᩚ)料(liao)或散(san)(san)射材(cai)料(♒liao)中的直接背散(san)(san)射噪聲

5.結(jie)合(he)了低頻單(dan)晶超(chao)(chao)聲探頭的穿透能力與高頻單(dan)晶超(chao)(chao)聲探頭的近表面(mian)分辨(bian)率能🌄力

6.可(ke)緊密貼附于曲(qu)面工(gong)件上(shang)

應(ying)用： 剩(sheng)余壁厚(hou)測量，腐蝕/侵蝕監控，焊(han)縫覆蓋和堆(dui)焊(han)層(ceng)的粘合/脫粘檢測🤡(ce)，探測(ce)鑄(zhu)件和鍛件中的(de)多孔(kong)性、夾雜物、裂(lie🅘)紋及分(fen)層等缺陷，探測(ce)螺栓或(huo)其(qi)他圓柱形部件中的(de)裂(lie)紋；等于(yu)或(huo)小于(yu)5.0 MHz的超聲(sheng)探(tan)頭可承受(shou)的最高溫度為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的(de)超聲(sheng)探頭可承受的(de)最高(gao)溫(wen)度為175°C。 對(dui)于表面溫度從90°C到(dao)425°C的工件，建議使用的工作(zuo)周期為最多接觸10秒，然后(hou)至少在空氣中冷(leng)卻1分鐘(zhong)（不適用于微型端部(bu)雙晶超聲(sheng)探頭）

角度(du)聲束探頭：角(jiao)度聲束探頭(tou)是(shi)一種與楔塊(kuai)一起使用的單晶探頭(tou)，可以(yi)所(suo)選的角(jiao)度將縱波或橫波發射到(dao)工(gong)件中𓂃。角(jiao)度聲束探頭(tou)可以(yi)對工(gong)件中垂直(zhi)入射接觸(chu)式探頭(tou)的超聲聲程無法到(dao)達的區域(yu)進行 檢測(ce)。角度(du)聲(sh🧸eng)束探頭一般用于焊縫檢測𝔍(ce)，因為如果(guo)使用標(biao)準接觸式探頭，焊冠會擋住聲(sheng)波，使聲(sheng)波無法到(dao)達希望(wang)檢測(ce)的焊縫區域，而且(qie)一般的缺(que)陷對準操作會使角度(du)聲(sheng)束產生(sheng)更強的反射信號。 更多參數請資(zi)料工程(cheng)師(shi)索要詳(xiang)細。

優勢(shi)特性：

1.我(wo)們Accupath楔塊的三種材料設計提(ti)高了信噪比(bi)性能，同時還表現(xian)了出色的耐磨性能

2.高溫(wen)楔(xie)塊(kuai)可對高溫(wen)材料進行在役檢測(ce)

3.楔(xie)塊可自行定制，以創建非標準(zhun)的折射角(jiao)度

4.提供(gong)可互換式或整體(ti)式設計(ji)

5.提供(gong)弧面外形

6.可提供鋁(lv)制帶(dai)有標(biao)準折射角度(du)的楔塊和整體(ti)式設計

應(ying)用： 缺陷(xian)探(♎tan)(tan)測與定量，衍(yan)射(she)時差探(tan)(tan)頭(tou)，檢(jian)測管(guan)道、管(guan)材、鍛件(jian)、鑄件(jian)、機加工部件(jian)和結(jie)構部件(jian)，以探(tan)(tan)測到焊接缺陷(xian)或裂紋(wen)。

延遲塊探頭：延遲塊探(tan)頭為(wei)單晶(jing)寬帶接(jie)觸式(shi)探(tan)頭，其te殊的(de)結構設計是在(♉zai)探頭(tou)晶片前(qian)插(cha)有塑料或 環氧材(cai)料制成(cheng)的▨(de)一個薄片。延遲(chi)塊改進了(le)工件近表面缺(que)陷(xian)的(de)分辨率，可以測量(liang)更薄的(de)材(cai)料厚度， 并能提供更jing確(🐼que)的厚(hou)度(du)測量結果。延(yan)遲塊可根據工件的表面(mian)幾何形狀緊貼在工件上(shang)，而且還可 用于高溫應用中。更(geng)多參數請(qing)資料🐼工程師(shi)索要詳細。

優勢特性(xing)：

1.高阻尼探頭加上延(yan)遲塊可以(yi)提供出(chu)色的近場分(fen)辨率(lv)

2.更高(gao)(gao)的探頭頻(pin)率可提(ti)高(gao)(gao)分辨率

3.直接接觸法的使用提高了(le)測量薄材料及發現細小缺陷(xian)的能力(li)

4.提供弧(hu)面(mian)外形，以(yi)適用(yong)于曲面(mian)工件

應用： 精確測(ce)厚，垂(chui)直(zhi)聲束缺陷探(tan)測(ce)，對接觸區(qu)域(yu)有限的(de)工件進行檢測(ce)，可更換式♚(shi)延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)探(tan)頭，每個(ge)探(tan)頭的(de)標(biao)準配置都包含一個(ge)延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)ꦚ和(he)固定環，提(ti)供高(gao)溫延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)和(he)干耦合(he)延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)，探(tan)頭及延(yan)遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)端部之間(jian)需要耦合(he)劑

保護面探頭：保護面(mian)探(tan)(tan)頭為一種帶有螺(luo)紋外殼護套的單(d🦋an)晶縱(zong)波探(tan)(tan)頭，可以安裝(zhuang)延(yan)遲塊、防磨(mo)帽或 保護膜。這個特點(dian)增(🥀zeng)強了探頭的靈活通用(yong)性，可使這種探頭用(yong)于范圍* 為(wei)廣泛(fan)的(de)應用中。 保護面探(tan)頭(tou)還可𓆏用作直接(jie)接(jie)觸式(shi)探(tan)頭(tou)，檢測橡膠(jiao)或(huo)塑料(liao)等低阻抗材(ca✅i)料(liao)，以改進聲阻抗的(de)匹配效果(guo)。更多參(can)數(shu)請資料(liao)工程(cheng)師索要詳細。

優(you)勢特(te)性：

1.通過(guo)提供(gong)可拆裝延遲(chi)塊、保護防磨😼帽和(he)保護膜(mo🐠)，使探頭具有廣泛的(de)用途

2.探頭(tou)單獨(du)使用時(shi)（沒有任何選項），環(huan)氧防♏(fang)磨面(mian)可提(ti)供(gong)與塑料、多種復合材料及其(qi)他低阻(zu)抗(kang)材料相匹配的優質聲阻(zu)抗(kang)

3.外殼上(shang)有螺(luo)紋(wen)，方便了延遲(chi)塊、保護膜和防磨帽的安裝

應(ying)用： 垂(chui)直(zhi)聲束缺陷探測(ce)(ce)，厚(hou)度測(ce)(ce)量，高溫(wen)檢(jian)測(ce)⭕(ce)，平板、坯🍌材、棒材及鍛件的檢(jian)測(ce)(ce)

水浸探頭(tou)：水(shui)浸探(tan)(tan)頭為(wei)單晶縱波探(tan)(t🔥an)頭，其防(fang)磨面具有與水(shui)匹配(pei)的阻抗。水(shui)浸探(tan)(tan)頭裝(zhuang)在密封外殼 中，在與防水(shui)線纜一起使用(yong)(yong)時(shi)，可以(yi)浸泡在水(shui)面以(yi)下。由(you)于水(shui)浸探(tan)頭將水(shuꦑi)用(yong)(yong)作耦(ou)合劑和延遲(chi) 塊，因(yin)此針對必須對工(gong)件施(shi)行(xing)持續耦(ou)合的掃查應用(yong)(yong)來說，這種(zho🌌ng)探(tan)頭是一種(zhong)*的(de)探頭。水(shui)浸探頭還 有一個附加選項(xiang)，即(ji)可以通過(guo)增加特定區域的(de)聲(sheng)強同時減(jian)少聲(sheng)束焦(jiao)點(dian)大小的(de)方式將(jiang)聲(sheng)束聚(ju)焦(jiao)。更多參數ꦫ(shu)請資料工程師索要詳(xiang)細。

優勢特性：

1.水浸技術(shu)提供了一種(zhong)均勻耦合(he)的方法

2.四(si)分(fen)之一波長匹配層增加(jia)了聲能的輸出

3.防腐蝕(shi)303不銹鋼外殼(ke)帶有鍍鉻黃銅連接器

4.射頻屏(ping)蔽(bi)功(gong)能可提高關鍵性應用(yong)的信(xin)噪比

5.除了筆刷式探頭以(yi)外，所有(you)水(shui)浸式探頭都(dou)🌠可進行(xing)球形(xing)（點）或圓柱(zhu)形(xing)（線）聚焦

6.聚焦長度會使聲束更集中，以提高檢測小反射體的靈敏度

應(ying)用： 自動掃查，在線厚(hou)度測(ce)(ce)量，高速(su)探測(ce)(ce)管道、棒材(cai)、管材(cai)、平板(ban)及其他(ta)類似部件(j⛎ian)中的缺陷，基于渡越時間和波幅的成像功能，穿透檢測(ce)(ce)，材(cai)料分(fen)析(xi)和聲(sheng)速(su)測(ce)(ce)量

使用注意事項：探(tan)頭(tou)浸于水中的時間不能超過(guo)8小時。探頭(tou)需要有16小時的干燥(zao)時間，以保證其(qi)使用(yong)壽命(ming)。

高頻探頭：高頻(pin)探(tan)頭包括延遲塊探(tan)頭和聚焦水浸探(tan)頭。這🍒些探(tan)頭的頻(pin)率(lv)范圍在20 MHz至225 MHz之間。高頻(pin)延遲塊探頭可以對(dui)厚度薄如0.010毫米(mi)(0.0004英寸)的材料進行厚(hou)度(du)測量(取決 于材料、探頭(tou)、表面條件、溫度(du)和設置)。高頻聚焦水浸(jin)探頭是對(dui)硅制微(wei)型芯片等具有低衰減性 的薄材(cai)料進行高分辨率成像和缺陷探測應(ying)用(yong)的*探頭。更多參數(shu)請資料工程師索要詳細

優勢特性：

1.高阻尼寬帶設計提供了出色(se)的時間(jian)分辨率(lv)

2.較短的波長，可獲得缺陷分辨率能力(li)強

3.聚焦(jiao)性能可(ke)以(yi)形成直(zhi)徑(jing)非常小的聲(sheng)束

4.頻率范(fan)圍(wei)為20 MHz到225 MHz

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