OLYMPUS奧林巴斯RollerFORM-3.5L64探頭

.

接觸式(shi)探頭：接(jie)(jie)觸式探(tan)頭是(shi)一個通常可生成縱波且與被測(ce)🎐樣件直接(jie)(jie)接(jie)(jie)觸的單晶探(tan)頭。所有(you)接(jie)(jie)觸式探(tan)頭都(dou)裝(zhuang)有(you)WC-5防磨面(mian)，不(bu)僅具有防磨效果(guo)，可以延(yan)長探頭壽命，還可以🐈提(ti)供適合于大(da)多數金屬的聲阻抗。更多參數請(qing)資料工程꧅(cheng)師索要(yao)詳細(xi)

優(you)勢特性(xing)：

1.所有款(kuan)式探頭都可在惡(e)劣的工業(ye)環境中使用

2.聲阻抗與大多數金屬接近匹配(pei)

3.可用于檢測各種材料

應(ying)用(yong)： 垂直聲(sheng)束缺陷探測(ce)(ce)和(he)(he)厚度(du)測(ce)(ce)量，分層缺陷的(de)探測(ce)(ce)和(he)(he)定量，材料表征和(he)(he)聲(sheng)速測(ce)(ce)量，檢測(🙈ce)(ce)平板、鋼坯、棒材、鍛件、鑄件、擠壓件以及其他各種金(jin)屬和(he)(he)非金(jin)屬部件，可(ke)在溫度(du)高達50°C的材料上連(lian)續使用

雙晶探頭：雙晶(jing)(jing)探頭包含兩(liang)個縱波晶(jing)(jing)片(一個(ge)用作發(fa)送器，另一個(ge)用作接收器)，兩個(ge)晶片裝(zh🦄uang)于同(tong)一個(ge)外殼中，但中間有一層隔(ge)音屏障。每個(ge)晶片都稍微向另一個(ge)晶片傾(qing)斜，目(mu)的是使從工件底(di) 面反彈的信號以V形(xing)聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴(yan)重腐蝕的✅工件時一般都能提(ti)供更穩定的讀數，而(er) 且還可用于高溫環境。更多參數請(qing)資料工(gong)程師索(suo)要詳細

優勢特性(xing)：

1.改(gai)進(jin)了近表面分辨率

2.消除了高溫應用(yong)中加倍延遲塊的(de)需要

3.在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好

4.降低了粗(cu)顆粒材料(liaoཧ)或散射(she)材料(liao)中的直接背(bei)散射(sꦛhe)噪聲

5.結合了低頻單晶超(chao)聲探(tan)頭(tou)🍰的(de)穿(chuan)透能(neng)(neng)力(li)(li)與高頻單晶超(chao)聲探(tan)頭(tou)的(de)近表面分辨率能(neng)(neng)力(li)(li)

6.可緊密貼附于曲面(mian)工件上(shang)

應用： 剩余壁厚測(ce)量，腐蝕/侵蝕監控，焊(han)(han)縫覆(fu)蓋和堆焊(han)(han)層的粘合/脫粘檢測(ꦜce)，探(tan)測(ce)鑄件(jian)(jian)和鍛件(jian)(jian)中的(de)多(duo)孔性(ꦇxing)、夾雜物、裂紋及(ji)分層等缺陷，探(tan)測(ce)螺栓或(huo)其(qi)他圓柱形部件(jian)(jian)中的(de)裂紋；等于或(huo)小于5.0 MHz的(de)超(chao)聲(sheng)探頭可承受的(de)最高(gao)溫度為(wei)425°C； 7.5 MHz和10 MHz的超聲探頭可(ke)承受的最高溫度為(wei)175°C。 對于表面溫度從90°C到425°C的(de)(de)工(gong)(gong)件，建議使用的(de)(de)工(gong)(gong)作周(ಌzhou)期為最(zui)多接觸10秒，然后至(zhi)少在(zai)空氣中冷卻1分鐘（不適用于微型端部雙晶超聲探頭）

角度(du)聲束探頭：角(j🍸iao)度(du)聲(she🍬ng)束探頭(tou)是(shi)一(yi)種與楔(xie)塊(kuai)一(yi)起(qi)使用的(de)單晶探頭(tou)，可(ke)以所選的(de)角(jiao)度(du)將縱波(bo)或(huo)橫波(bo)發射到工(gong)件中(zhong)。角(jiao)度(du)聲(sheng)束探頭(tou)可(ke)以對工(gong)件中(zhong)垂(chui)直入(ru)射接觸式探頭(tou)的(de)超聲(sheng)聲(sheng)程無法到達的(de)區域進行 檢測。角度(du)聲(sheng)束探(tan)頭一般(ban)用于(yu)焊縫檢測，因為如果使(shi)用標準接觸式探(t🎃an)頭，焊冠會(hui)擋住(zhu)聲(sheng)波，使(shi)聲(sheng)波無法(fa)到達(da)希望檢測的焊縫區域，💛而且一般(ban)的缺陷對準操作會(hui)使(shi)角度(du)聲(sheng)束產生更強的反射信(xin)號。 更多(duo)參數請資料(liao)工程(cheng)師索要詳細(xi)。

優勢(shi)特性：

1.我們Accupath楔塊的(de)三種材料設計提高了信噪比性能，同時(shi)還表現了出色的(de)耐磨性能

2.高溫(wen)楔塊可(ke)對高溫(wen)材料(liao)進行在役檢測(ce)

3.楔塊可自行(xing)定制，以創建非標(biao)準的(de)折(zhe)射角度

4.提供可互換式或整體式設計

5.提供弧面外(wai)形

6.可提(ti)供鋁制帶有標準(zhun)折射(she)角度(du)的楔塊和整體式設計

應用： 缺(que)陷(xian)探測(✨ce)與定(din🌠g)量，衍(yan)射時差探頭，檢測(ce)管道、管材(cai)、鍛件、鑄件、機加工部件和結構部件，以探測(ce)到焊接缺(que)陷(xian)或裂紋。

延遲塊探頭(tou)：延遲塊探(tan)頭為單晶寬帶接觸式探(tan)頭，其te殊(shu)的(ﷺde)結(jie)構設(she)計是(shi)在探頭(tou)晶(jing)片(pian)前插有塑料(liao)或 環氧材料(liao)制成的(de)一個薄片(pian)。延遲塊改進(jin)了(le)工件近表面(mian)缺陷(xian)的(de)分辨(bian)率，可以測🥃(ce)量更薄的(de)材料(liao)厚度(du)， 并能提供(gong)更jing確的厚度測量結果(guo)。延遲塊可根據工件的表面幾何形狀緊貼(tie)在工件上，而且(qie)還可 用于高(gao)溫應用中。更ꦬ多參數請資料工程師索要詳(xiang🎃)細。

優勢(shi)特性(xing)：

1.高阻尼探(tan)頭(tou)加上延遲塊(kuai)可以提供出色的近場(chang)分辨率

2.更高的(de)探頭頻率(lv)可提高分(fen)辨率(lv)

3.直(zhi)接(jie)接(jie)觸(chu)法的使用(yong)提(ti)高了(leꦍ)測量薄材(cai൲)料(liao)及發現細小缺陷的能(neng)力(li)

4.提(ti)供弧(hu)面(mian)外形，以(yi)適用于曲(qu)面(mian)工(gong)件

應用： 精確測厚，垂直聲束缺陷探(tan)測，對接觸區域有限的(de)工🌜件進行檢測，可更換式(shi)延(yan)遲(chi)(chi)塊探(tan)頭，每個探(tan)頭的(de)標準配置都包含一個延(yan)遲(chi)(chi)塊和(he)固(gu)定環，提供(gong)高溫延(yan)遲(chi)(chi)塊和(he)干耦合延(yan)遲(chi)(chi)塊，探(tan)頭及延(yan)遲(chi)(chi)塊端部之間需要耦合劑

保護面(mian)探(tan)頭：保護面探(tan)頭(tou)為一種帶(dai)有螺紋外殼護套(tao)的單晶縱波(bo)探(tan)頭(tou)，可(ke)以安裝延(yan)遲塊、防(fang)磨⭕帽或 保護膜。這(zhe)個特點增(🌼zeng)強了(le)探頭(tou)的靈活通用𓂃性，可使這(zhe)種探頭(tou)用于范(fan)圍* 為廣泛的應用(yong)中。 保(bao🎶)護面探頭(tou)還可用(yong)作直接(jie)接(jie)觸式探頭(tou)，檢測橡膠或塑料等(deng)低(di)阻抗(kang)材料，以改(gai)進聲阻抗(k🃏ang)的匹配效果。更多(duo)參數(shu)請資(zi)料工(gong)程師索要詳(xiang)細。

優(you)勢特性：

1.通過(guo)提供可(ke)拆裝(zhuang)延(yan)遲塊、保(bao)護(hu)防磨帽和保(bao)護(hu🌃)膜，使探頭具有廣(guang)泛的用(yong)途(tu)

2.探頭單獨使用時（沒有(you)任何選(xuan)項），環氧防磨面(mi�𝔉�an)可提供與塑料、多種復合材料及其他低(di)阻(zu)抗材料相(xiang)匹配的優質聲阻(zu)抗

3.外殼上有螺紋，方便(bian)了延遲塊、保護膜和防磨帽的安裝

應用： 垂直聲束缺(que)陷探(tan)測(ce)(ce)(ce)，厚(hou)度(du)測(ce)(ce)(ce)量(li𝓡ang)，高溫檢測(ce)(ce)(ce)，平(ping)板、坯材、棒材及鍛(duan)件的檢測(ce)(ce)(ce)

水浸探頭：水浸(jin)(jin)探頭(tou)為單晶縱波探頭(tou)，其防磨面(mian🐓)具(ju)有與水匹配的阻抗。水浸(jin)(jin)探頭(tou)裝(zhuang)在密封外(wai)殼 中，在(zai)(zai)與(yu)防水線(xian)纜一(yi)起使用時，可以浸(jin)泡在(zai)(zai)水面以下。由(you)于水浸(jin)探(tan)頭將水用作耦合劑(ji)和延遲 塊(kuai)，因(yin)此針對(dui)必(bi)須對(dui)工件施行持續耦合的(de)掃(sao)查(cha)應用來說，♕這種(zhong)(zhong)探(tan)頭是(shi)一(yi)種(zhong)(zhong)*的(de)探(tan)頭。水浸(jin)探(tan)頭還(huan) 有一個(ge)附(fu)加選項(xiang)，即(ji)可以(yi)通過(guo)增加特(te)定區域的(de)聲(sheng)(sheng)強同時(shi)減少聲(sheng)(sheng)束焦(jiao)(jiao)點大小的(de)方式將(jiang)聲(sheng)(sheng)束聚焦(jiao)(jiao)。更多(🙈duo)參數請(qing)資料工程師索要詳(xiang)細。

優勢特性：

1.水浸技術提供了一種均勻(yun)耦合(he)的方法

2.四分之一波(bo)長匹配(pei)層(ceng)增加了聲(sheng)能的輸出

3.防腐蝕(shi)303不銹鋼外殼帶(dai)有鍍鉻黃(huang)銅連接器

4.射(she)頻屏蔽功能可提高關(guan)鍵性應用的信噪比

5.除(chu)了筆刷式探(t𝔉an)頭以(yi)外，所有水浸式探(tan)頭都可(ke💦)進行球形(xing)（點(dian)）或圓柱形(xing)（線）聚焦

6.聚焦長度(du)會(hui)使聲(sheng)束更集中，以ཧ提高檢測小(xiao)反(fan)射體的靈敏(mꦓin)度(du)

應用(yong)： 自動掃查，在(ᩚᩚᩚᩚᩚᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ𒀱ᩚᩚᩚzai)線厚(h🎐ou)度測(ce)量，高速(su)探測(ce)管道、棒材、管材、平板(ban)及其他類似部件中(zhong)的缺(que)陷，基于渡越時間和波幅的成像功能，穿(chuan)透檢測(ce)，材料分析和聲速(su)測(ce)量

使用注意事(shi)項：探(tan)頭浸于水中的(de)時間不能超(chao)過8小時(shi)。探頭需(xu)要有16小時的干(gan)燥時間，以(yi)保(bao)證其(qi)使用壽命。

高頻探頭：高頻探頭(tou)包括延(yan)遲塊探頭(tou)和(he)🐭聚焦水(shui)浸探頭(tou)。這些(xie)探頭(tou)的(de)頻率范(fan)圍(wei)在20 MHz至225 MHz之間。高頻(pin)延遲塊探(tan)頭可以(yi)對厚(hou)度薄如0.010毫(hao)米(0.0004英(ying)寸)的材料進行厚度測量(取(qu)決 于(yu)材料、探(tan)頭、表面條(tiao)件(jian)、溫度和設置)。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等(deng)具有低衰減性 的(de)薄材料進(jin)行高分(fen)辨率成像和(he)缺陷探測(ce)應用的(de)*探(tan)頭。更多(duo)參數請資(zi)料工程(cheng)師索要(yao)詳細

優勢特性(xing)：

1.高(gao)阻尼寬帶設(she)計提供了(le)出色(se)的時(shi)間分(fen)辨率

2.較短(duan)的波長，可獲得缺陷分(fen)辨率能力(li)強

3.聚焦(jiao)性能可以(yi)形成直徑非常小的聲束

4.頻率范圍為20 MHz到(dao)225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯RollerFORM-3.5L64探頭