OLYMPUS奧林巴斯PF1R-24探頭

.

.

接觸式(shi)探頭：接(jie🙈)觸(chu)(chu)式探(tan)(tan)頭是一個(ge)通常可(ke)生成(cheng)縱波(bo)且(qie)與被測樣件直接(jie)接(jie)觸(chu)(chu)的(de)單晶探(tan)(tan)頭。所有(you)(you)接(jie)觸(chu)(chu)式探(tan)(tan)頭都裝有(you)(you)WC-5防磨面(mian)，不僅具(ju)有防磨效果(guo)，可以(yi)延長探頭壽命，還可以(yi)提供(gong)適合于(yu)大(da)多🐷數金屬的聲阻抗。更多參數請資料工程(cheng)師索要(y♚ao)詳細

優勢特性：

1.所(suo)有款式༒探(tan)頭都可在惡(e)劣(lie)的工業(ye)環境(jing)中(zhong)使用

2.聲阻抗與(yu)大多數金屬接(jie)近匹配

3.可用于檢測各種材料

應用： 垂(chui)直聲(sheng)束缺陷(xian)探測和厚(hou)度(du)測量(liang)(liang)，分層(ceng)缺陷(xian)꧟的探測和定量(liang)(liang)，材料表(biao)征和☂聲(sheng)速(su)測量(liang)(liang)，檢測平板(ban)、鋼坯、棒材、鍛件(jian)、鑄件(jian)、擠壓件(jian)以及其他各種金屬和非金屬部件(jian)，可在溫度(du)高(gao)達50°C的材料上連(lian)續使(shi)用

雙晶探(tan)頭：雙晶探頭包含兩個縱波晶片(一(yi)個用作(zuo)發送(song)器，另一(yi)個用作(zuo)接收(shou)器)，兩個晶片(🃏pian)(pian)裝于同一個外殼中，但中間有一層隔(ge)音(yin)屏障(zhang)。每個晶片(pian)(pian)都稍微向另(ling)一個晶片(pian)(pian)傾斜，目的(de)是(shi)使(shi)從工件底 面反彈的(de)信號以V形聲程傳播。雙晶探(tan)頭在檢(jian)測嚴(yan)重腐蝕的(de)工(gong)件(jian)時一般都能෴提供更穩定的(de)讀(du𝕴)數，而(er) 且還可用于高溫(wen)環境(jing)。更多參數請資料工程師索要詳(xiang)細(xi)

優勢特性：

1.改進了近表面分辨率

2.消(xiao)除了(le)高溫應用中加倍延遲塊的需要

3.在(zai)粗糙或彎(wan)曲(qu)表面(mian)上的耦合效果好

4.降低了粗顆粒材料或散射(she)材料中的直接背(bei)散射(she)噪(zao)聲

5.結合了低頻單(dan)晶(jing)超聲探頭(tou)(tou)的穿(chuan)透能力與高頻單(dan)晶(jing)超🐎聲探頭(tou)(tou)的🎶近表面(mian)分辨率(lv)能力

6.可緊密(mi)貼附于曲(qu)面工件上

應用： 剩(sheng)余壁厚測量，腐蝕/侵蝕監控，焊縫覆蓋和堆焊層的粘合/脫(tuo)粘(zhan)檢測，探測鑄件(jian)(jian)(jian)和(he)鍛(duan)件(jian)(jian)(jian)中的(de)多孔(kong)性(xing)、夾雜物、裂(lie)紋及分(fen)層(ceng)等(deng)缺陷，探測螺栓(shuan)或其(qi)他圓柱形部(bu)件(jian)(jian)(jian)中的(de)裂(lie)紋；等(ꦍdeng)于或小于5.0 MHz的超聲探(tan)頭可(ke)承(cheng)受的最高(gao)溫度為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的(de)超聲探(tan)頭可承受(shou)的(de)最高溫度為175°C。 對于表面溫(wen)度從(cong)90°C到(dao)425°C的(de🎐)工(gong)件，建議(yi)使用的(de)工(gong)作周期為最多(duo)接(jie)觸10秒，然后至(zhi)少在(zai)空氣中冷卻1分鐘（不適(shi)用(yong)于微型(xing)端部雙晶超聲探頭）

角度聲束探頭：角度聲束探(tan)頭是一(yi)種與楔塊一(yi)起(qi)使(s🐲hi)用的(de)單(dan)晶探(tan)頭，可以(yi)所選的(de)角度將縱波或橫波發射(she)到工(gong)件(jian)中(zhong)。角度聲束探(tan)頭可以(yi)對工(gong)件(jian)中(zhong)垂(chui)直(zhi)入射(she)接觸式探(tan)頭的(de)超(chao)聲聲程無法到達的(de)區域進行 檢測(c🤪e)。角(jiao)度(du)聲束探頭(tou)一(yi)般用于焊縫檢測(ce)，因為如果使用標準接觸(chu)式探頭(tou)，焊冠會(hui)擋住(zhu)聲波，使聲波無(wu)法到(dao)達希望檢測(ce)的(de)焊縫區(qu)域(yu)，而且一(yi)般的(de)𝔉缺陷對(dui)準操作會(hui)使角(jiao)度(du)聲束產(chan)生(sheng)更(geng)強(qiang)的(de)反射信號。 更多參數請資料工程師(shi)索要詳(xiang)細。

優勢(shi)特性：

1.我們(men)Accupath楔塊的(de)三種材料(liao)設(she)計提高了(le)信噪比性能，同時還表現了(le)出色的ꦉ(de)耐(nai)磨性能

2.高溫楔塊(kuai)可對高溫材料(liao)進行在役檢測

3.楔塊可自(zi)行(xing)定制，以創(chuang)建(jian)非標準的(de)折射角度

4.提供(gong)可互換(huan)式或整體式設計

5.提(ti)供弧(hu)面外形(xing)

6.可提供鋁(lv)制帶有標準折(zhe)射角度的楔塊和(he)整體式設計

應用： 缺陷(xian)探(൩tan)(tan)測與(yu)定量，衍射時差(cha)探(tan)(tan)頭，檢測管道(dao)、管材、鍛件、鑄件、機加工(gong)部件和結構部件，以探(tan)(tan)測到(dao)焊接缺陷(xian)或(huo)裂(lie)紋(wen)。

延遲塊探(tan)頭：延遲塊探頭為單晶(jing)寬帶接觸式探頭，其te殊(shu)的(de)結構設(she)計是在(zai)探頭(🐼tou)晶片前插(cha)有(you)塑(su)料(liao)或(huo) 環氧材料(liao)制成的(de)一個(ge)薄片。𝓡延遲(chi)塊改進了工件近表面(mian)缺(que)陷的(de)分辨(bian)率，可以測量更(geng)薄的(de)材料(liao)厚(hou)度(du)， 并能(neng)提供更jing確的(de)厚度測量結果。延遲塊可根據工(gong)件的(de)表面幾何形ꦫ狀緊貼在工(g𓆉ong)件上，而且還(huan)可 用(yong)于高(gao)溫應用(yong)中。更(geng)多參數請資(zi)料工(gong)程(cheng)師索要詳細。

優(you)勢特(te)性：

1.高阻尼(♎ni)探頭(tou)加上(shang)延(yan)遲塊可以(yi)提(t𒐪i)供(gong)出色的近場分辨率

2.更(geng)高的探頭頻率可提高分辨率

3.直接(jieꦇ)接(jie)觸法的使用提高了測(ce)量薄(bo)材料(liao)及發現細小(xiao)缺陷的能力

4.提供弧(hu)面外形，以適用于曲面工件(jian)

應(ying)用： 精確測厚，垂直聲束缺陷探測，對(dui)接(jie)觸區域有(you)限的工件進(jin)行檢測，可更(geng)換式延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)探頭(tou)，每個探頭(tou)的標準配置(zhi)都包含一個延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)和(he)固定環，提(ti)供高(gao)溫延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)和(he)干耦合延(yan)遲(chi)塊(kuai)(kuai)，探頭(tou)及延(yan)遲(chi)塊(kuai)ꦬ(kuai)端部(bu)之(zhi)間(jian)需(xu)要耦合劑

保(bao)護(hu)面(mian)探頭：保(bao)護(hu)面探(tan)頭(tou)為一種帶(dai)有(you)螺紋外殼護(hu)套的單晶縱(zong)波探(tan)頭(tou)，可以安裝(zhuang)延遲塊(kuai)、防磨帽꧋或 保(bao)護膜。這個(ge)特(te)點增強了探頭的(d💙e)靈活通用性，可使這種探頭用于范圍(wei)* 為(wei)廣(guang)泛的應用中。 保護面(mian)探頭還可用作直接(jie)接(jie)觸式探頭，檢測橡(xiang)膠或(huo)塑料(liao)等低阻(zu)抗材料(liao)，以改進聲阻(zu)抗的匹配效(xiao)果。更多(duo)參數(shu)請資料(liao)工(gong)程師索(suo)要(ya🎐o)詳細。

優勢特性：

1.通過(guo)提供可拆裝延遲😼(chi)塊、𓆉保護(hu)防(fang)磨帽和保護(hu)膜(mo)，使探頭具有廣泛的(de)用途

2.探頭單獨使(shi)用時（沒有任(ren)何(he)選(xuan)項），環氧(y🐲a🐬ng)防磨面可(ke)提供(gong)與塑料、多種復(fu)合材料及(ji)其他低(di)阻抗材料相匹配的優質聲阻抗

3.外(wai)殼上有螺(luo)紋，方便了延(yan)遲塊、保護膜和防磨帽的安裝

應用(yong)： 垂直聲束缺陷(xian)探測，厚度測量，高溫檢測，平板、坯材、棒(bang)材及鍛件的檢測

水浸(jin)探頭：水(shui)(shui)浸探(tan)頭(tou)為(wei)單晶縱波(🐓bo)探(tan)頭(tou)，其(qi)防磨面具(ju)有(you)與水(shui)(shui)匹(pi)配的(de)阻抗。水(shui)(shui)浸探(tan)頭(tou)裝在密封外殼 中(zhong)，在與防水(shui)線纜一(yi)起使用(yong)(yong)(yong)時，可以浸泡在水(shui)面(mian)以下。由(you)于(yu)水(shui)浸探頭將水(shui)用(yong)(yong)(yong)作耦(ou)合劑和延遲 塊，因此針對必須對工件施行持續(xu)耦(ou🐟)合的掃查應用(yong)(yongᩚᩚᩚᩚᩚᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ𒀱ᩚᩚᩚ)(yong)來(lai)說，這種探頭是一(yi)種*的𓄧探(tan)頭(tou)(tou)。ꩵ水浸探(tan)頭(tou)(tou)還 有(you)一個附加(jia)選項(xiang)，即可以通過增加(jia)特定區(qu)域(yu)的聲(sheng)強同(tong)時減少聲(sheng)束(shu)焦點(dian)大小的方式(shi)將聲(sheng)束(shu)聚(ju)焦。更多(duo)參數請資料工程師索要詳細。

優(you)勢特性：

1.水浸技(ji)術提供了(le)一(yi)種(zhong)均勻耦合的方法

2.四分之一波(bo)長匹配(pei)層增加了聲能的輸出

3.防腐蝕303不銹鋼外(wai)殼帶有鍍鉻(ge)黃(huang)銅連接器(qi)

4.射(she)頻屏蔽(bi)功能可提高關(guan)鍵性(xing)應用的(de)信噪(zao)比

5.除了筆刷式探頭(tou)(tou)以外，所有(you)水浸式探頭(tou)(tou)都(dou)ꦬ可進行🐻球形（點）或圓柱形（線(xian)）聚焦

6.聚焦長度會(hui)使聲束更集(ji)中(zhongꦰ)ꦆ，以提(ti)高(gao)檢測小(xiao)反(fan)射(she)體的靈敏度

應(ying)用(yong)： 自動掃查，♐在線厚度(du)測(ce)(ce)量，高(gao)速(su)探測(ce💮)(ce)管(guan)道、棒材、管(guan)材、平板及(ji)其他(ta)類(lei)似部件(jian)中的缺陷(xian)，基于渡越(yue)時間和波幅(fu)的成像功能，穿(chuan)透檢測(ce)(ce)，材料分析和聲(sheng)速(su)測(ce)(ce)量

使(shi)用注意事項：探頭浸于水中(zhong)的時間不能超過(guo)8小時。探頭需要(yao)有(you)16小時的干(gan)燥時間，以保(bao)證其使用(yong)壽命。

高頻(pin)探頭：高頻(pin)探頭包(bao)括延(yan)遲塊探頭和(he)聚焦水(shui♑)浸探頭。這些探頭的頻(pin)率范圍在20 MHz至225 MHz之間。高頻(pin)延(yan)遲塊探(tan)頭可以對厚度薄如0.010毫(hao)米(0.0004英(ying)寸(cun))的材料進行厚度(du)測(ce)量(liang)(取決 于材料、探頭、表面條件(jian)、溫(wen)度和設置)。高頻聚焦水浸探頭是(shi)對硅制微型(xing)芯片等具有(you)低衰減性 的(de)薄材料進行(xing)高分辨率成像(xiang)和缺陷(xian)探測應用(ဣyong)的(de)*探(tan)頭。更多參數請資料(liao)工程(cheng)師索要詳細

優勢特性：

1.高(gao)阻尼寬帶(▨dai)設計(ji)提(ti)供(gong)了出色(se)的時(shi)間分(fen)辨(bian)率

2.較短(duan)的波長，可獲得缺陷分辨率能力(li)強

3.聚焦性能可(ke)以形(xing)成(cheng)直徑非常小的聲束

4.頻率范(fan)圍為20 MHz到225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯PF1R-24探頭