OLYMPUS奧林巴斯PAB-0504-45-AL-RM探頭

.

接觸式探頭：接觸(chu)(chu)式(shi)探頭是一個通(to🅠ng)常(chang)可生成縱波且(qie)與被測樣(yanꦚg)件直接接觸(chu)(chu)的單晶探頭。所有接觸(chu)(chu)式(shi)探頭都裝有WC-5防磨面，不(bu)僅具(ju)有防磨效果，可🃏以延長探(tan)頭壽命，還(huan)可以提(ti)供適(shi)合于大(da)多(duo)數(shu)金屬的聲(sheng)阻抗。更多(duo)參(can)數(shu)請(qing)資꧒料工程師索要詳細

優(you)勢特性(xing)：

1.所有款式探(tan)頭都(dou)可(ke)在惡劣的工業(ye)環(huan)境中使(shi)用(y⛄on🥃g)

2.聲(sheng)阻(zu)抗與大多數金屬接(jie)近匹配

3.可用于檢測各種(zhong)材料

應(ying)用： 垂直聲(sheng)束(shu)缺(que)陷探測(ce)和(he)厚度測(ce)量，分層缺(que)陷的探測(ce)和(he)定量，材料表征和(he)聲(sheng)速(su)測(ce)量，檢測(ce)平(ping)板、鋼(gang)坯、🍨棒(bang)材、鍛件(jian)、鑄件(jian)、擠壓件(jian)以(yi)及其(qi)他(ta)各種金屬和(he)非金屬部(bu)件(jian)，可在溫度高達50°C的材料上連續使用

雙晶(jing)探(tan)頭(tou)：雙晶探頭包含兩(liang)個縱波晶片(pian)(一個用作發送器，另一個用作接收(shou)器)，兩個晶片裝于同(tong)一(yi)個外殼中(zhong)，但中(zhong)൩間有一(yi)層隔音屏障。每個晶片都稍微(wei)向另一(yi)個晶片傾斜，目(mu)的是使從(cong)工件(💦jian)底 面反彈(dan)的信號以V形(xing)聲程(ch🅰eng)傳播(bo)。雙晶(jing)探頭在檢測嚴重腐蝕的工件時一般都能提供更穩定的讀數(shu🦋)，而 且還可用于高溫環(huan)境。更(geng)多參數請資料工程(cheng)師索要詳細

優勢特性(xing)：

1.改進了近表面分(fen)辨率

2.消除了高(gao)溫應用中(zhong)加倍延遲塊的(de)需要

3.在(zai)粗糙或彎曲表面上的(de)耦合效(xiao)果(guo)好

4.降低了粗顆粒材料或散射(she)材料中的(de)直接(jie)背散射(she)噪聲

5.結合了低頻單晶(jing)超聲(sheng)探頭(tou)的(de)穿透能力(li)與高頻單晶(jing)超聲(sheng)探頭ꦗ(tou)的(de)近表面分辨率能力(li)

6.可緊密貼(tie)附(fu)于曲面工件(jian)上(shang)

應用： 剩余壁厚測量，腐蝕/侵蝕監(jian)控，焊(han)縫覆蓋(gai)和堆(dui)焊(han)層的粘合/脫(tuo)粘檢測(ce)，探(tan)測(ce)鑄件和鍛件中(zhong)(zhong)的(꧟de)多孔(kong)性、夾雜物、裂紋(wen)及(ji)分層(ceng)等缺陷，探(tan)測(ce)螺栓或(huo)(hu🀅o)其他圓柱形(xing)部件中(zhong)(zhong)的(de)裂紋(wen)；等于或(huo)(huo)小于5.0 MHz的(de)(de)超聲(sheng)探(tan)頭(tou)可承受的(de)(de)最高溫度為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的超聲(sheng)探頭可承(cheng)受的最高溫度為(wei)175°C。 對于表面溫度從90°C到(dao)425°C的工件，建議使用的工作(zuo)周期為(wei)最多(duo)接觸10秒，然后(hou)至少在空(kong)氣中冷卻1分鐘(zhong)（不適(shi)用于微型(xing)端部雙晶超聲(sheng)探頭）

角度聲(sheng)束(shu)探(tan)頭：角度(du)聲束探(tan)頭(tou)是一種(zhong)與楔(xie)塊(kuai)一起使用的(de)單(dan)晶(ꦦjing)探(tan)頭(tou)，可以所選(xuan)的(de)角度(du)將(jiang)縱波(bo)或橫波(bo)發(fa)射到工(gong)件中。角度(du)聲束探(tan)頭(tou)可以對(dui)工(gong)件中垂直(zhi)入射接(jie)觸(chu)式探(tan)頭(tou)的(de)超聲聲程😼無(wu)法到達的(de)區域進行 檢(jian)測(ce)。角(jiao)度聲(൲sheng)束探頭一(yi)般(ban)用于焊縫檢(jian)測(ce)，因為(wei)如果使用標準接(jie)觸式探頭，焊冠會擋住聲(sheng)波(bo)，使聲(sꦦheng)波(bo)無法到達希望檢(jian)測(ce)的(de)焊縫區(qu)域(yu)，而(er)且一(yi)般(ban)的(de)缺陷對準操作會使角(jiao)度聲(sheng)束產生更強的(de)反射信號。 更多參數(shu)請(qing)資料工程(cheng)師索要(yao)詳細(xi)。

優勢(shi)特性：

1.我們Accupath楔塊的三種材料設計(ji)提高(gao)了信噪比性能，ཧ同時還(huan)表現了出色的🃏耐(nai)磨性能

2.高(gao)溫(wen)楔塊可對高(gao)溫(wen)材料進行(xing)在役檢測

3.楔塊可自行定(ding)制，以創建非標準的折射角度

4.提供(gong)可互(hu)換式(shi)(shi)或整體(ti)式(shi)(shi)設計

5.提供弧面(mian)外形

6.可提(ti)供鋁制帶有(you)標準折射(she)角度的楔塊和整體式(shi)設計

應用： 缺陷(xian)探測(ce)(ce)與定量，衍射時差探頭，檢(jian)測(ce)(ce)管道(dao)、管材、鍛件(jian)(jian)、鑄件(ji𝄹an)(jian)、機(ji)加工部件(jian)(jian)和結構部件(jian)(jian)，以探測(ce)(ce)到焊(han)接缺陷(xian)或裂紋。

延遲塊探頭：延遲塊探頭為單(dan)晶寬(kuan)帶接觸式探頭，其te♑殊的(de)(de)結構設計是在(zai)探頭晶片前插有塑料(liao)或 環氧(yang)材料(liao)制成的(de)(de)一個(ge)薄片。延(yan)遲(chi)塊改進了(le)工件近表面缺💫陷的(de)(de)分辨(bian)率，可以(yi)測(ce)量更薄的(de)(de)材料(liao)厚度， 并(bing)能提(ti)供更jing確的(de)厚度測(ce)量結果。延遲塊可(ke)根據工件的(de)表面幾何(he)形狀緊貼(tie)在工件上，而ඣ且(qie)還(huan)可(ke) 用于(yu)高溫應用中。更多參數請資料(liao)工程師索要詳(xiang)細(xi)。

優勢特性：

1.高阻尼探頭加(jia)上延遲塊(kuai)可以提(ti)供出色的近場分辨率(lv)

2.更(geng)高的探頭頻(pin)率可提高分辨率

3.直(zhi)接接觸法的使(shi)用提高了測量薄材料及發(fa)現細(xi)小缺陷的能力

4.提供弧面(mian)外形，以適用于曲面(mian)工件

應用： 精(jing)確測(ce)厚，垂直聲束缺陷探測(ce)，對接觸(chu)區域有限(xi𒉰an)的工件進行檢(jian)測(c🔯e)，可更(geng)換(huan)式(shi)延遲塊(kuai)探頭(tou)(tou)，每個探頭(tou)(tou)的標準配置都包含一個延遲塊(kuai)和固定環，提供高溫(wen)延遲塊(kuai)和干耦合延遲塊(kuai)，探頭(tou)(tou)及延遲塊(kuai)端部之間需要耦合劑

保(bao)護面探頭：保護(hu)面探頭為一種帶(dai)有螺紋外殼護(🌃hu)套(tao)的單晶縱波探頭，可以安(an)裝延遲塊、防(fang)磨(mo)帽(mao)或 保護膜。這個特點(dian)增強了探頭的(de)靈(ling)活(huo)通用(yong)性，可使這種探頭用(yong)于范(fan)ไ🌺圍* 為廣泛(fan)的應用中。 保護(hu)面探頭還可(ke)用作直接接觸(chu)式探頭，檢(jian)測橡(xiജang)膠或塑(su)料(liao)等低阻(zu)抗(kang)材(cai)料(liao)，以改(gai)進聲阻(zu)𓃲抗(kang)的匹配效果。更多參(can)數請資料(liao)工(gong)程師索(suo)要詳細(xi)。

優勢特(te)性：

1.通過(guo)提供(gong)可ꦚ拆裝(zhuang)延遲塊、保(♐bao)護防磨帽和保(bao)護膜，使探頭具有廣泛的(de)用(yong)途

2.探頭꧋單獨使用ও時（沒有任何選項），環(huan)氧防磨面(mian)可提供(gong)與塑料(liao)、多種復(fu)合材料(liao)及其他(ta)低(di)阻抗材料(liao)相(xiang)匹配的優質聲阻抗

3.外殼上(shang🦋)𒁏有螺紋(wen)，方便了延遲(chi)塊、保(bao)護膜和防磨帽(mao)的安裝

應用： 垂直聲束缺陷探測(ce)，厚度測(ce)量(liang)，高溫檢測(ce)，平板、坯材(cai)、棒材(cai)及(ji)鍛件的檢🎀測(ce)

水(shui)浸探頭：水(shui)(shui)浸探(tan)(tan)頭(tou)為單晶縱波探(tan)(tan)頭(tou)，其防磨面具(ju)有(you)與水(shui)(shui)匹配的阻抗。水(shu🏅i)(shui)浸探(tan)(tan)頭(tou)裝🍃在密封外殼 中，在(zai)與防(fang)水線纜一(yi)(yi)起使(shi)用(yong)時，可以(yi)浸泡(pao)在(zai)水面以(yi)下。由(you)于水浸探頭(tou)將(jiang)水用🌠(yong)作耦合劑和延(yan)遲 塊，因此針(zhen)對(dui)必(bi)須對(dui)工件(jian)施行持續(xu)耦合的掃查應用(yong)來說，這種(zhong)探頭(tou)是一(yi)(yi)種(zhong)*的探(tan)頭(tou)(tou)。水浸探(tan)頭(tou)(tou)還 有一個附加選(xuan)項，即可以通過增加特定區域的聲強同(tong)時減少聲束焦點(dian)大小的方式將聲束聚焦。更多參(can)數請資料工(🍷gong)程師索要詳細。

優勢特性：

1.水(shui)浸技(ji)術提供了一種均勻耦合的方法

2.四分(fen)之一波長匹配層(ceng)增加了聲能的輸出

3.防腐蝕303不銹鋼(gang)外(wai)殼帶有(you)鍍鉻黃銅連接器(qi)

4.射頻(pin)屏蔽功能可提高(gao)關鍵性應(ying)用的信噪比(bi)

5.除了筆刷式探(tan)(tan)頭以外，所有水(shui)浸式探(tan)(tan)頭都可🎃進行球形(xing)（點）或圓柱形(xing)（線）聚焦

6.聚(ju)焦長度會使(shi)聲束更集中，以提高檢測(ce)小(xiao)反射體的靈敏度

應用： 自動掃查，在(zai)線厚度測量，高(gao)速(🐈su)探測管(guan)道、棒(bang)材(cai)、管(guan)材(cai)、平板(ban)及其他類(lei)似部件中的缺陷，基(j♏i)于(yu)渡越時(shi)間(jian)和(he)波幅的成像功能，穿(chuan)透檢測，材(cai)料分析和(he)聲速(su)測量

使用(yong)注意事項：探頭浸(jin)于(yu)水中的時間不能超過8小(xiao)時。探頭需(xu)要有16小時的干燥(zao)時間，以(yi)保證其使用壽命。

高頻(pin)探頭：高(gao)頻探(tan)頭(tou)包(bao)括延遲塊(kuai)探(tꦰan)頭(tou)和聚焦水浸(jin)探(tan)頭(tou)。這些探(tan)頭(tou)的頻率范圍在20 MHz至225 MHz之間。高(gao)頻延(yan)遲塊探頭(tou)可以對厚度薄如0.010毫(hao)米(0.0004英寸(cun))的(de)材料(liao)進行(xing)厚(hou)度測量(取(qu)決 于材料(liao)、探頭(tou)、表面(mian)條件(jian)、溫度和設(she)置)。高頻聚焦水浸探頭是對硅(gui)制微型芯片等具有低衰減性(xing) 的薄材料進行高(gao)分(fen)辨率成像(xiang)和缺陷探(tan)測應(ying)用的*探頭。更多參數請(qing)資料工程師索要詳(xiang)細

優勢特(te)性：

1.高阻尼寬帶設(she)計提(ti)供(gong)了出色的時間分辨(bian)率

2.較短的波長(chang)，可獲得(de)缺陷(xian)分辨率能力強

3.聚焦性能可以形(xing)成直(zhi)徑非常小的(de)聲束

4.頻(pin)率范圍為(wei)20 MHz到225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯PAB-0504-45-AL-RM探頭