OLYMPUS奧林巴斯7.5CCEV35-16-8X10-A10-P-5-OM探頭

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接(jie)觸式(shi)探頭：接(jie)觸(chu)式(shi)探(tan🧸)頭是(ꦡshi)一個通常可(ke)生(sheng)成縱波且與被測樣(yang)件直(zhi)接(jie)接(jie)觸(chu)的(de)單晶探(tan)頭。所(suo)有接(jie)觸(chu)式(shi)探(tan)頭都裝有WC-5防(fang)磨面，不(bu)僅具有防(fa🦹ng)磨效(xiao)果，可以(yi)延(yan)長探頭壽(shou)命(ming)，還可以(yi)提(ti)供適(🌠shi)合于大多(duo)數金屬的聲阻抗。更(geng)多(duo)參數請資料工程師索要詳細

優勢特性(xing)：

1.所有(you)款式探頭都(dou)可(ke)在惡劣的工業環境中使用(yong)

2.聲阻(zu)抗與大多(duo)數(shu)金屬(shu)接近匹(pi)配

3.可(ke)用于檢測各(ge)種(zhong)材料

應用： 垂(ch🎉ui)直(zhi)聲束缺陷探測(ce)和(he)厚度測(ce)量，分層(ceng)缺陷的探測(ce)和(he)定量，材料表征和(he)聲速(su)測(ce)量，檢測(ce)平板(ban)、鋼坯、棒材、鍛件、鑄件、擠壓(ya)件以及其他各種金(jin)屬和(he)非(fei)金(jin)屬部(bu)件，可(ke)在溫度高達50°C的(de)材料上連續使用

雙(shuang)晶探頭(tou)：雙晶探頭(tou)包含(han)兩(liang)個縱波晶片(一個用作發送器(qi)，另一個用作接收器(qi))，兩個(ge)(g𒈔e)(ge)晶(jing)片裝于同一個(ge)(ge)(ge)外殼中(zhong)，但中(zhong)間(jian)有(you)一層隔音屏(ping)障。每個(ge)(ge)(ge)晶(jing)片都稍微向另一個(ge)(ge)(ge)晶(jing)片傾斜(xie)，目的是使從工件底 面(mian)反彈的﷽信號以V形聲程傳(chuan)播。雙晶探頭在檢測嚴重腐蝕的工件時一般都能ඣ(neng)提供🤪更穩(wen)定的讀數，而 且還可(ke)用于高溫環境。更多參數請資料工程師索要詳細

優勢(shi)特性：

1.改(gai)進了近表面(mian)分(fen)辨(bian)率

2.消除了高溫(wen)應(ying)用中加倍(bei)延遲塊的需要

3.在粗糙或彎曲表面上的耦合效果(guo)好

4.降低了粗顆粒材料(ꦿliao)(liao)或散射材料(liao)(liao)中的直接背(bei)散射噪聲

5.結合(he)了低頻單晶超(chao)聲探(tan)頭的穿透能力與高頻單晶超(chao)聲探(taဣn)頭的近(jin)表(biao)𒆙面分(fen)辨(bian)率能力

6.可緊密貼附于(yu)曲面工件(jian)上

應用： 剩余壁厚測量，腐蝕/侵蝕(shi)監控(kong)，焊(han)縫覆蓋和堆(dui)焊(han)層(ceng)的粘合/脫粘檢測，探測鑄(zhu)件和鍛件中(zhong)(zhong)的多孔性、夾(jia)雜物、裂紋(wen)及分(fen)層等(deng)缺陷(xian)，探測螺栓或其他圓柱(zhu)形部件中(zhong)(zhong)的🃏裂紋(wen)；等(deng)于(yu)或小于(yu)5.0 MHz的超聲探(tan)頭可承受的最(zui)高溫(wen)度(du)為425°C； 7.5 MHz和(he)10 MHz的超聲探(tan)頭可承受的最(zui)高溫度(du)為175°C。 對于表面(mian)溫度從90°C到425°C的(de)工(go🌞ng)件(jian)，建議使用(yong)的(de)工(gong)作周(zhou)期為最多接觸10秒，然后至少在空氣中冷卻1分鐘（不適用于微型端部雙(shuang)晶超聲(sheng)探(tan)頭）

角度聲(sheng)束探(tan)頭：角度聲(sheng)束探頭(tou)(tou)是一種與楔(xie)塊一起使用的單(dan)晶探頭(tou)(tou)，可以所選的角度將縱波(bo)或(huo)橫波(bo)發射(she)到工(gong)件中。角度聲(sheng)束探頭(tou)(tou)可以對工(gong)件中垂直入射(she)接觸式探頭(tou)(tou)的超聲(sheng)聲(sheng♏)程無(wu)法到達(da)的區域進行 檢(jian)(jian)測(ce)。角度(du)聲(sheng)束(shu)探頭(tou)(tou)一般用(yong)于焊(han)縫(feng)檢(jian)(jian)測(ce)，因為(wei)如(ru)果(guo)使用(yong)標準接(jie)觸式探頭(tou)(tou)，焊(han)冠會擋住聲(sheng)波(bo)，使聲(sheng)波(bo)無法到達希望檢(jian)(jian)測(ce)的焊(han)縫(feng)區域，而且一般的缺陷對準操作(zuo)會使角度(du)聲(sheng)束(shu)產(chan)生更強🗹的反(fan)射(she)信號。 更多參數請資料工程師索要詳細。

優勢特(te)性：

1.我們Accupath楔塊的三種(zhong)材料(l🦩iao)設計(ji)提高了信噪比性能(neng)，同時還表現了出色的耐磨(mo)性能(neng)

2.高溫楔塊可對高溫材料進行在(zai)役檢測

3.楔塊可自行定制，以創建非標(biao)準的折射角度

4.提供可互換(huan)式或(huo)整(zheng)體(ti)式設(she)計

5.提供弧面外(wai)形

6.可提(ti)🌳供鋁制帶(dai)有標準折射(she)角度的楔(xie)塊和(he)整體式設(she)計

應用： 缺(que)陷探測與定量，衍射時差༺探頭，檢測管道、管材(cai)、鍛件、鑄件、機加工部件和結(jie)構部件，以探測到焊(han)接缺(que)陷或裂紋。

延(yan)遲塊(kuai)探頭(tou)：延遲(chi)塊(kuai)探(tan)頭為單(dan)晶寬帶接觸式(s𒅌hi)探(tan)頭，其(qi)te殊的結構設計是在探(tan)頭(tou)晶(jing)片前插(cha)有塑料或 環氧材料制成的一個(𓄧ge)薄片。延遲塊改(gai)進了工(gong)件近表面缺陷的分(fen)辨率(lv)😼，可以測量更薄的材料厚度(du)， 并能提供更(geng)jing確的厚度測量結果。延遲塊可根(gen)據(ju)工件的表面(mian)幾何(he𒆙)形狀緊(jin)貼(tie)在工件上，而且(qie)還可 用于高溫應用中。更(geng)多參數請(qing)資料工程師索要詳細(xi)。

優勢特性：

1.高阻尼探頭(tou)加上延遲塊可以提供出色的近場(chang)分辨率

2.更高的(de)探頭頻率(lv)可提高分(fen)辨率(lv)

3.直接接觸法的使(shi)用提(ti)高了測量(liang)薄材料及發現細小缺陷的能(neng)力

4.提供弧面(mian)外形(xing)，以適用于曲面(mian)工件

應用： 精確測(ce)厚，垂直聲束缺陷探(tan)(tan)測(ce)，對接觸區域有限的(de)工件進(jin)行(xing)檢測(ce)，可(ke)更換式延遲塊(kuai)探(tan)(tan)頭(tou)，每(mei)個(ge)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)標準配置都包含(han)一個🃏(ge)延遲塊(kuai)和固定環，提供高(gao)溫延遲塊(kuai)和干耦合(he)延遲塊(kuai)，探(tan)(tan)頭(tou)及延遲塊(kuai)端部之間(jian)需要耦合(he)劑(ji)

保護(hu)面探頭：保護(hu)面探頭為(wei)一種帶有螺紋外(wai)殼護(hu)套的單(dan)晶縱波探頭，可以安(an)裝(zhuang)延遲塊、防磨(mo♋)帽或 保護膜🙈。這個特(te)點增(zeng)強了探頭的靈(ling)活通(tong)用性(xing)，可(ke)使(shi)這種探頭用于(yu)范圍* 為廣泛的應用中。 保護面探(tan)頭(tou)還可用作直接(jie)接(jie)觸式探(tan)頭(tou)，檢測橡(xiang)膠或(huo)塑料等低阻(zu)抗(kang📖)材🍌料，以改(gai)進聲阻(zu)抗(kang)的匹配效果。更多參數請資料工(gong)程師索(suo)要詳細。

優勢特性：

1.通過提供可拆裝延遲塊、保護防磨帽和保護膜，使探頭具有(you)廣泛的用途

2.探頭單(dan)獨(du)使用時（沒有任何選項(xiang)），環氧防磨(mo)面可提供與塑(su)料、多種(zhong)復合൩材料及其他低阻(zu)(zu)抗(kang)材料相匹(pi)配(pei)♉的(de)優質聲阻(zu)(zu)抗(kang)

3.外殼上有螺紋，方便了延遲(chi)塊、保護膜和(he)防磨(mo)帽的安裝

應用： 垂直聲束缺(que)陷探測(ce)，厚度(du)測(ওce)量(liang)，高溫檢(jian)測(ce)，平板、坯材、棒材及鍛件的檢(jian)測(ce)

水浸探頭(tou)：水浸探頭(tou)為單(dan)晶(jing)縱波探頭(tou)，其(qi)防磨面具有(you)與水匹✅配(pei)的阻抗(kang)。水浸探頭(tou)裝在密(mi)封外殼 中，在與(yu)防水(shui)線(xian)纜(lan)一(yi)起(qi)使用(yong)時(shi)，可(ke)以浸泡(pao)在水(shui)面以下。由(you)于水(shui)浸探(tan)頭將水(shui)用(yong)作耦合劑和延遲 塊，因此🥀(ci)針對必須(xu)對工(gong)件(jian)施行持續耦合的掃查應(ying)用(yong)來(lai)說，這種(zhong)探(tan)頭是(shi)一(yi)種(zhong)*的(de)探(tan)頭(tou)。水浸探(tan)頭(tou)還(huan) 有一個附加選項，即可以(yi)通(tong)過增加特定區(qu)域꧃的(de)聲(sheng)強(qiang)同時減少(shao)聲(sheng)束焦(jiao)點大小的(de)方式將聲(sheng)束聚焦(jiao)。更多參(can)數請資料工程師索要詳(xiang)細。

優勢特性：

1.水浸技術提供了一種均勻(yun)耦合(he)的方法

2.四分之一波長匹(pi)配(pei)層增加了聲能的輸出

3.防腐蝕303不(bu)銹鋼外殼(ke)帶有鍍鉻黃銅連接器

4.射頻屏蔽(bi)功能可(ke)提高(gao)關鍵性應用(yong)的信噪比(bi)

5.除了筆(bi)刷式探(tan)頭以外，🌳所有水浸式探(tan)頭☂都可(ke)進(jin)行球形（點）或圓柱形（線）聚焦

6.聚焦長度(du)(du)會🌃使聲束更集中(zhong)，以提高檢測小(xiao)反射體的(de)靈敏度(du)(du)

應用： 自(z🃏i)動掃(sao)查(ch♐a)，在線(xian)厚度(du)測(ce)量(liang)，高速探測(ce)管道、棒(bang)材(cai)、管材(cai)、平板及其他類(lei)似(si)部件中的(de)缺陷(xian)，基于渡越時間和波幅(fu)的(de)成像功能，穿透檢測(ce)，材(cai)料分析和聲速測(ce)量(liang)

使用注意事項：探頭浸于水中的時間不能超過8小時。探(tan)頭需要有16小(xiao)時的干燥時間，以保證其使用壽命。

高頻(pin)探頭(tou)：高頻探(tan)(tan)頭(tou)包括延遲塊探(tan)(tan)頭(tou)和聚𒐪焦水浸(jin)探(tan)(tan)頭(tou)。這些探(tan)(tan)頭(tou)的(de)頻率范圍在20 MHz至225 MHz之間(jian)。高頻延遲塊探頭可(ke)以對厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料(liao)進行厚度測(ce)量(取決 于材料、探頭、表面條件、溫(wen)度和設置)。高ꦉ頻聚(ju)焦水浸探頭(tou)是對硅制(zhi)微型芯片等具(ju)有(you)低衰減(ji🐠an)性 的薄材料(liao)進行高分辨率(lv)成像和缺陷探測應(ying)用的*探頭(tou)。更多參數請資料工(gong)程師索要詳細

優勢特性：

1.高(gao)阻尼寬(kuan)帶設計(ji)提供了(le)出(chu)色的時間分(fen)辨率

2.較短的(de)波長，可獲(huo)得缺陷分辨(bian)率(lv)能力強

3.聚焦性能可以形成(cheng)直徑非常小(xiao)的(de)聲束(shu)

4.頻率范圍為20 MHz到225 MHz

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