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5L32-9.9X7-A10-P-2.5-OM探頭

產品時間(jian):2023-03-24

簡要描述:

OLYMPUS奧林(lin)巴斯(si)5L32-9.9X7-A10-P-2.5-OM探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、角(jiao)(jiao)度聲束(shu)(shu)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)和(he)楔塊(kuai)(kuai)、歐洲標準探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、AWS探(tan)(tan)頭(tou)(ꦬtou)(tou)和(he)楔塊(kuai)(kuai)、接觸式(shi)探(tan)(ta🎀n)頭(tou)(tou)(tou)、延遲塊(kuai)(kuai)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、雙晶探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、EMAT探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、高頻探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、水浸式(shi)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、整合角(jiao)(jiao)度聲束(shu)(shu)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、垂(chui)直入(ru)射橫波探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、保護面探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、RTD探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、點焊(han)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、標準角(jiao)(jiao)度聲束(shu)(shu)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、TOFD探(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)和(he)楔塊(kuai)(kuai)


OLYMPUS奧林巴斯5L32-9.9X7-A10-P-2.5-OM探頭

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奧林巴斯探頭.jpg


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接觸式(shi)探(tan)頭接(jie)(jie)觸式探(tan)頭是一個(ge)通常可生成(cheng)縱波且與被測樣件直(zhi)接(jie)(jie)接(jie)(jie)觸的單(dan)ꦬ晶探(tan)頭。所有(you)(you)接(jie)(jie)觸式探(tan🔯)頭都裝有(you)(you)WC-5防磨(mo)面,不僅具有(you)防磨(mo)效(xiao)果,可以延💛(yan)長(chang)探(tan)頭壽命𓆉,還可以提供適合于大多數金(jin)屬的聲阻抗(kang)。更多參(can)數請資料工程師索(suo)要詳細

優勢特性:

1.所有款式探(tan)頭都可(ke)在惡劣的工(gong)業(ye)環(h🌠uan)境(jing)中使(shi)用

2.聲阻抗與大多(duo)數(shu)金屬接(jie)近匹配

3.可用(yong)于檢(jian)測各(ge)種材料

應用: 垂(chui)直聲束缺陷探測和厚度測量(liang),分層缺陷的(de)探測和定量(lia🌞ng),材料(liao)表征和聲速測量(liang),檢測平(ping)板、鋼坯、棒(bang)材、鍛件、鑄(zhu)件、擠(ji)壓件以及其他各種金屬和非金屬部件,可在溫度高達50°C的材(cai)料上連(lian)續使用

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雙晶探頭(tou):雙(shuang)晶探頭包含兩個(ge)縱波晶片(一個(ge)用作發送器,另(ling)一個(ge)用作接收器),兩個晶(jing)片裝于(yu)同(tong)一個外殼(ke)中,但中間有一層隔音屏障🏅。每個晶(jing)片都稍(shao)微(wei🐽)向另一個晶(jing)片傾斜,目(mu)的是使從工件(jian)底 面反彈的信(xin)號以(yi)V形聲程傳(🌺chuan)播。雙晶探(tan)頭🐼在檢測嚴重腐(fu)蝕的工件時一般都能提供更穩定的讀數,而 且還可用于高(gao)溫環(huan)境。更多參數請資料工(gong)🎃程師(shi)索(suo)要(yao)詳細(xi)

優勢特性:

1.改進了近表面分辨率

2.消除了高溫應用中(zhong)加倍延遲塊的(de)需要(yao)

3.在粗糙或彎(wan)曲表面(mian)上的(de)耦(ou)合效果好

4.降低了粗顆(ke)粒材料或散射材料中的直接背散射噪聲

5.結合了低頻(pin)單(daꦍn)(dan)晶超聲(sheng)(sheng)探(tan)頭的穿(chuan)透能(neng)力(li)與高(gao)頻(pin)單(dan)(dan)晶超聲(sheng)(sheng)探(tan)頭的近表面分辨(bian)率能(neng)力(li)

6.可(ke)緊密貼附于曲(qu)面工件上

應(ying)用: 剩余壁厚測量,腐(fu)蝕(shi)/侵(qin)蝕監控,焊縫覆蓋和堆焊層的粘合/脫(tuo)粘檢測,探測鑄件和鍛件中的(de)(de)多孔性、夾(jia)雜物、裂紋(wen)(wen)及分層等缺(que)陷(xian),探測螺栓或其(qi)他圓(yuan)柱形部件中的(de)(de)裂紋(wen)(wen);等🤡于或小✅于5.0 MHz的(de)超聲探頭可承(cheng)受的(de)最高溫度為425°C7.5 MHz10 MHz的(de)超聲探頭可承受的(de)最(zui)高溫度為175°C。 對(dui)于(yu)表面溫度(du)從90°C425°C的工(gong)件,建議使用的工(gong)作周期為(wei)最多接觸(chu)10秒,然后至少在空氣中冷卻(que)1分鐘(不(bu)適用于微型端部雙晶(jing)超聲探(tan)頭)

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角度聲束探頭:角度聲(sheng)束探(tan)頭(tou)是一種與楔塊(kuai)一起使用的(de)單(dan)晶探(tan)頭(tou),可(ke)以所選的(de)角度將縱(zong)波(bo)或橫෴(heng)波(bo)發射到(dao)工(gong)件中。角度聲(sheng)束探(tan)頭(tou)可(ke)以對工(gong)件中垂直入射接觸式探(tan)頭(tou)的(de)超聲(sheng)聲(sheng)程無(wu)法到(dao)達的(de)區域進行 檢測(ce)。角(jiao)度(du)聲(sheng)🀅束探(tan)頭一般用(yong)于焊(han)縫檢測(ce),因為如(ru)果使(shi)用(yong)標準(zhun)接(jie)觸式探(tan)頭,焊(han)冠會(hui)擋住聲(sheng)波,使(shi)聲(sheng)波無法到(dao)達希望檢測(ce)的(de)(de)焊(han)縫區域,而且一般的(de)(de)缺陷(xian)對準(zhun)操作會(hui)使(shi)角(jiao)度(du)聲(sheng)束產(chan)生更強的(de)(de)反射信號。 更多參數請資(zi)料工程師索要詳細。

優勢特性:

1.我們Accupath楔塊的三種材﷽(cai)料設計(ji)提(ti)高了信噪比性能(neng)(neng)🌺,同時還表現了出色的耐磨性能(neng)(neng)

2.高溫(wen)楔塊(kuai)可對高溫(wen)材料進行在役檢測

3.楔塊(kuai)可自行(xing)定(ding)制,以(yi)創建非標準的(de)折射角度

4.提供可互(hu)換式(shi)或整體式(shi)設計

5.提供弧面外形

6.可提(ti)供鋁(lv)制帶有標準折射角度(du)的楔塊和整(zheng)體式設計

應用(yong): 缺陷(xian)探(tan)測與定量,衍射時ꦕ差探(tan)頭,檢測管(guan)道、管(guan)材、鍛件(jian)(jian)、鑄件(jian)(jian)、機加工部件(jian)(jian)和(he)結構部件(jian)(jian),以探(tan)測到(dao)焊接缺陷(xian)或裂(lie)紋ꦛ。

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延遲塊(kuai)探頭(tou):延遲塊探頭(tou)為單晶寬帶(dai)接(jie)觸(chu)式探頭(tou),其te殊的(de)(d🅘e)結構設計(ji)是在探頭晶片前插有塑料(liao)或 環氧(yang)材料(liao)制成(cheng)的(de)(de)一個薄片。延(yan)遲塊改進了(le)工件近表面缺(que)陷的(de)(de)分辨率(lv),可以測量更薄的(de)(de)材料(liao)厚(hou)度, 并能提供更jing確的厚度測量結果。延遲(chi)塊可(ke)根據工件的表(biao)面幾何形狀緊貼在工件上,而且(qie)還可(ke) 用(yong)于高溫應用(yong)中。更(geng)多參數請資料工程(cheng)師索🥀(suo)要詳細(xi)。

優勢特性(xing):

1.高阻尼(ni)探頭加上(shang)延遲塊可(ke)以提供(gong)出色(se)的近場分辨率

2.更高的探頭頻(pin)率可(ke)提高分(fen)辨率

3.直接接觸(chu)法的使用(yong)提高了測量薄材料(liao)及發現細小缺(que)陷的能力

4.提(ti)供(gong)弧面外形,以適用于曲面工件

應(ying)用: 精確測(ce)厚,垂直聲束缺陷探測(ce),對接觸(chu)區域(yu)有(you)限(xian)的工꧅件進行檢測(ce),可更(geng)換式延遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)探頭(tou),每個(ge)探頭(tou)的標準配(pei)置都包含(han)一個(ge)延遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)和固(gu)定環(huan),提供高溫延遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)和干耦合(he)延遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai),探頭(tou)及(ji)延遲(chi)(chi)塊(kuai)(kuai)端部之間需要耦合(he)劑

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保(bao)護面探(tan)頭(tou):保(bao)護(hu)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(h🎶u)套的單晶(jing)縱波探頭,可以(yi)安裝延(yan)遲(chi)塊、防磨帽🌞或 保護膜(m♈o)。這(zhe)個特點增強了探頭(tou)(tou)的靈活(huo)通用性,可使這(zhe)種探頭(to🦩u)(tou)用于范(fan)圍* 為(wei)廣泛的應用(yong)中。 保(bao)護面探頭還(huan)可用(yong)作直接接觸式探頭,檢(jian)測橡膠(jiao)或(huo)塑料(liao)(liao)等低阻抗材料(liao)(liao),以改🌄(gai)進聲(sheng)阻抗的匹配(pei)效果。更(geng)多參(can)數請資料(liao)(liao)工程師索要詳細。

優(you)勢特性:

1.通過提供可拆裝(zhuang)延遲(chi)塊🌱、保(bao)護防磨帽和保(bao)護膜,使探頭具有🍃廣(guang)泛的用途(tu)

2.探頭單獨使用時(沒有任何選項),環氧防磨面可提(ti)供與塑料(༒liao)、多種復(fu)合材料(liao)及(ji)其他低阻(zu)抗材料(🅺liao)相(xiang)匹(pi)配的優(you)質聲阻(zu)抗

3.外殼上有螺紋,方便了延遲塊、保護膜(mo)和(he)防磨(mo)帽的安裝

應用(yong): 垂直聲(sheng)束缺陷探測,厚度測量(liang),高𒈔溫檢(jian)測,平(ping)板、坯(pi)材、棒(bang)材及鍛件的檢(jianܫ)測

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水浸探頭(tou):水(shui✅)浸探(tan)(tan)頭為單晶縱波(b🐽o)探(tan)(tan)頭,其防磨(mo)面具有(you)與水(shui)匹配(pei)的阻抗。水(shui)浸探(tan)(tan)頭裝(zhuang)在密(mi)封外殼 中(zhong),在與防水線纜一起(qi)使用(yong)時,可以浸(jin)泡在水面以下(xia)。由(you)于水浸(jin)探頭(tou)將水用(yong)作耦合劑和延遲 塊,因此針對必須對工件施行持續耦合的(de)掃查(cha)應用(yong)🌌來說,這種(zhong)探頭(tou)是一種(zhong)*的(de)探(tan)頭。水浸探(tan)頭還 有一個附(fu)加選項,即可(ke)以通過(guo)增加特(te)定區域的(de)聲強同ꦦ時減少聲束(shu)焦點(dian)大小的(de)方式將(jiang)聲束(shu)聚焦。更多(duo)參數請資料工程師(shi)索要詳(xiang)細(xi)。

優勢特性:

1.水浸技(ji)術提供了一(yi)種均勻耦合的方法

2.四分之一波長匹配(pei)層增加了聲能的(de)輸出

3.防(fang)腐蝕303不銹(xiu)鋼外殼(ke)帶有(you)鍍鉻黃銅連接器

4.射(she)頻屏蔽(bi)功能可提高關鍵(jian)性應用的信(xin)噪比

5.除(chu)了(le)筆刷(shua)式(shi)探(tan)(tan)頭以外,所有水(shui)浸式(shi)探(tan)(tan)頭都(dou)可進行(xing)球形(xing)(點(dian))或圓柱(zhu)形(x꧒ing)(線)聚焦

6.聚焦長度會使聲(sheng)束更集中,以提(ti)高(gao)檢(jia🧸ওn)測小反射(she)體的靈敏度

應用(yong): 自動掃查,在線厚度(du)測(ce)🐎量(liang),高速探測(ce)管(guan)(guan)道、棒材、管(guan)(guan)材、平板(ban)及其他類似部件中的缺陷,基于(yu)渡越時間和(he)波(bo)幅的成像(xiang)功能,穿(chuan)透檢測(ce),材料(ಌliao)分析和(he)聲(sheng)速測(ce)量(liang)

使用注(zhu)意事項:探頭浸于水中的時間不能超過(guo)8小時。探頭需要有16小時(shi)的(d🌸e)干燥(zao)時(shi)間(jian),以保證其使用壽(shou)命(ming)。

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高頻探頭:高(gao)頻(pin)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)包(bao)括延♛(yan)遲塊探(tan)頭(tou)(tou)(tou)和(he)聚(ju)焦水𝔉浸探(tan)頭(tou)(tou)(tou)。這些(xie)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的頻(pin)率范圍在20 MHz225 MHz之間。高頻延(yan)遲(chi)塊(kuai)探頭(tou)可以(yi)對厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料進行厚(hou)度(du)測(ce)量(取決(jue) 于材料、探頭、表面條件(jian)、溫度和設置)。高頻聚焦水浸探(tan)頭是對硅制微型芯片(pian)等具(ju)有低衰減性(xing) 的薄材料進行高分辨率成(cheng)像和缺(que)陷探測應用的*探頭。更多參(can)數請(qing)資料工程(cheng)師索(suo)要(yao)詳細

優勢特性:

1.高(gao)阻(zu)尼寬帶設計提供了出色的時間分辨率(lv)

2.較短(duan)💛的(de)波長(chang),可獲得缺陷分(fen)辨率能力(li)強(qiang)

3.聚(ju)焦性(xing)能可以形成直(zhi)徑非常小(xiao)的聲束

4.頻率范圍(wei)為20 MHz到(dao)225 MHz


OLYMPUS奧林巴斯5L32-9.9X7-A10-P-2.5-OM探頭

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