OLYMPUS奧林巴斯PAB-0503-45-AL-SM探頭

接觸式探(tan)頭：接(jie)觸式探頭是一個通常可生(sheng)成縱波且與被測樣件直接(jie)接(jie)觸的單(dan)晶探頭。所有接(jie)觸式探𓆏頭都裝有WC-5防(fang)磨面(mian)，不♌僅具有防(fang)磨效果，可(ke)(ke)以延長探頭壽命(ming)，還可(ke)(ke)以提(ti)供適(shi)合于大(da)多(duo)數(shu)金屬的聲阻(zu)抗(kang)。更多(duo)參數(shu)請資料工(gong)程(cheng)師索要(y🌺ao)詳細

優勢特性：

1.所有款式探頭都可在惡劣的(de)工(gong)業(ye)環(huan)境中使用

2.聲阻抗與大多(duo)數(shu)金屬接近(jin)匹配(pei)

3.可用于檢(jian)測各種材(cai)料(liao)

應用： 垂直(zhi)聲束缺陷探測和(he)厚(hou)度(du)測量(liang)(liang)，分層(ceng)缺陷的探測和(he)定(ding)量(liang)(liang)，材(cai)料表征和(he🦩)聲速測量(liang)(liang)，檢測平(ping)板、鋼坯、棒(bang)材(cai)、鍛(duan)件(jian)、鑄件(jian)、擠壓件(jian)以及其(qi)他各種(zhong)金屬和(he)非(fei)金屬部件(jian)，可在(zai)溫(wen)度(du)高達50°C的材料上連續使(shi)用

雙晶探頭(tou)：雙(shuang)晶(jing)探頭包含兩個縱波(bo)晶(jing)片(一個用(yong)作發(fa)送器，另一個用(yong)作接收器)，兩個(ge)(ge)晶(jing)片裝于同一(yi)個ꦑ(ge)(ge)外殼中，但中間有一(yi)層隔音屏障。每個(ge)(ge)晶(jing)片都稍微(wei)向另一(yi)個(ge)(ge)晶(jing)片傾斜，目的是使從工件(jian)底 面反彈(dan)的信號(hao)以V形聲(sheng)程傳播(bo♛)。雙晶探頭(tou)在(zai)檢測嚴重腐蝕(shi)的工件時一般都(do♌u)能提供(gong)更穩定(ding)的讀(du)數，而(er) 且還可用于(yu)高溫環境。更多參(can)數(shu)請資料工程師(shi)索要詳細

優勢特性：

1.改進了近表面分辨(bian)率

2.消(xiao)除了高溫應用中加(jia)倍(bei)延遲塊的需(xu)要

3.在(zai)粗糙或彎曲表面上的耦(ou)合效果好

4.降(൲jiang)低了粗顆粒材(cai)料(liao)或散射(she)(she)材(cai)料(liao)中(zhong)的直接背(bei)散射(sh♛e)(she)噪聲

5.結(♔jie)合了(le)低頻單晶(jing)超(chao)聲探頭(tou)的(de)(de)穿透(tou)能(neng)(neng)力(li)與高(gao)頻單晶(jing)超(chao)聲探頭(tou)的(de)(de)近表面分辨率能(neng)(neng)力(li)

6.可緊密貼附于(yu)曲(qu)面工件上(shang)

應用： 剩余壁厚測量，腐蝕/侵蝕監控，焊縫覆(fu)蓋和(he)堆焊層的(de)粘合/脫(tuo)粘檢測，探測鑄(zhu)件和鍛件中的(de)(de)多(duo)孔性、夾雜物、裂紋(wen)及(ji)分層𒁏等(deng)缺陷(xian)，探測螺栓或(huo)其他圓柱形(xing)部件中的(de)(de)裂紋(wen)；等(deng)于或(huo)小于5.0 MHz的超(chao)聲探頭可承受的最高溫(wen)度(du)為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的(de)超聲探(tan)頭可承受的(de)最高溫度為175°C。 對于表面溫度從90°C到425°C的工件，建議使用的工作周期為最多接觸10秒，然后至少在空氣中冷卻1分鐘（不(bu)適用于微型端部雙晶超(chao)聲探頭）

角度聲束探(tan)頭：角ꦅ(jiao)度(du)聲束(shu)(shu)探(tan)頭(tou)是(shi)一(yi)種(zhong)與楔塊一(yi)起使(shi)用的(de)單晶(jing)探(tan)頭(tou)，可以所選(xuan)的(de)角(jiao)度(du)將縱波(bo)或橫波(bo)發射(she)到工件(jian🍌)中。角(jiao)度(du)聲束(shu)(shu)探(tan)頭(tou)可以對工件(jian)中垂直(zhi)入射(she)接(jie)觸式(shi)探(tan)頭(tou)的(de)超聲聲程無法到達的(de)區域(yu)進行 檢測。角度(du)聲(sheng)束(shu)探(tan)頭一般用于焊縫檢測，因為如果使用標(biao)準(zhun)接(j🎶ie)觸式探(tan)頭，焊冠會(hui)擋住聲(sheng)波，使聲(sheng)波無法到達希(xi)望檢測的(de)(de)焊縫區域，而(er)且(qie)一般的(de)(de)缺(que)陷對準(zhun)操作會(hui)使角度(du)聲(sheng)束(shu)產(chan)生更強的(de)(de)反射信號。 更(geng)多參數請資料(liao)工(gong)程師索(suo)要詳細(xi)。

優勢特性(xing)：

1.我們Accupath🌜楔塊的三種材料設計提高(gao)了(le)信噪比(bi)性能，同(tong)時(shi)還表現了(le🅷)出色的耐(nai)磨(mo)性能

2.高溫楔塊(kuai)可(ke)對高溫材料進行在役檢測

3.楔(xie)塊可自行定制，以創建非(fei)標準的折射(she)角(jiao)度

4.提供可互(hu)換式(shi)或整體(ti)式(shi)設計

5.提供弧面(mian)外形

6.可提供鋁制帶有標準折(zhe)射角(jiao)度的楔(xie)塊和整體式設(she)計

應用： 缺(que)陷(xian)(xian)探(tan)測(ce)與定量(liang)，衍射時(shi)差探(tan)頭，檢測(ce)管道(dao)、管材(cai)、鍛件(jian)、鑄件(jian)、機加工(gong)部件(jian)和結構部件(j♐ian)，以探(tan)測(ce)到焊接缺(que)陷(xian)(xian)或裂紋。

延遲塊探(tan)頭(tou)：延遲塊(kuai)探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其te殊的(de)(de)結構꧃設計꧙是在探(tan)頭(tou)晶片前插有塑料(liao)或 環氧材(cai)料(liao)制成(cheng)的(de)(de)一個薄(bo)片。延遲塊改進(jin)了工件近表面缺陷的(de)(de)分(fen)辨率，可以測(ce)量(liang)更薄(bo)的(de)(de)材(cai)料(liao)厚(hou)度， 并能提供(gong)更(geng)jing確的(de)厚度(du)測量結果(guo)。延遲(chi)塊可根據工(gong)件的(de)表(biao)面(mian)幾何形狀緊貼在(zai)工(go🌃ng)件上，而且還꧅可 用(yong)于高溫應用(yong)中。更多參數(shu)請資料工(gong)程師索要(yao)詳細。

優勢特性：

1.高(gao)阻尼探頭(tou)加上延遲塊可以提(ti)供出(chu)色的近場分辨(bian)率

2.更高的探頭頻(pin)率可提高分辨率

3.直接接♈觸法的(de)使(shi)用提高了測量薄材(cai)料(liao)及發現細(xi)小(xiao)缺陷的(de)能力

4.提供弧面外(wai)形，以(yi)適用于曲(qu)面工件

應用(yong)： 精確(que)測(ce)厚(hou)，垂(chui)直聲(sheng)束(shu)缺﷽陷探(tan)測(ce)，對接觸區域有限的工件進(jin)行(xing)檢測(ce)，可更換(huan)式延遲塊(kuai)探(tan)頭(tou)，每個(ge)探(tan)頭(tou)的標(biao)準(zhun)配置都(dou)包含一個(ge)延遲塊(kuai)和(he)固定環，提供(gong)高溫(wen)延遲塊(kuai)和(he)干耦(ou)合延遲塊(kuai)，探(tan)頭(tou)及(ji)延遲塊(kuai)端♍(duan)部之間需要耦(ou)合劑(ji)

保護面探頭(tou)：保護面(mian)探頭為(wei)一種帶(dai)有螺紋外(wai)殼(k🌃e)護套(tao)的單晶(jing)縱波探頭，可以安裝延遲塊、防(fang)磨(mo)帽(mao)或 保護膜。這個特點增強了探頭(tou)的靈活(huo)通用(yong𝓀)(yong)性，可使這種探頭(tou)用😼(yong)(yong)于(yu)范圍* 為廣泛(fan)的應用中。 保護面探頭還(huan)可用作直接(jie)接(jie)觸式探頭，檢測橡(xiang)膠或塑料等低阻(🔯zu)抗(kang)材料，以(yi)改進聲阻(zu)抗(kang)的匹配(pei)效果。更多參數請資料工程師索要詳細(xi)。

優勢特性：

1.通(tong)過提供可(♓ke)拆裝延遲塊、保護防磨帽(mao)和保護膜(moꦚ)，使(shi)探頭(tou)具有廣泛的用途

2.探頭(tou)單獨使用時（沒(mei)有(you𝔉)任(ren)何選項），環氧防磨面可提供與塑料、多種復合材料及其他低阻(zu)(zu)抗(kang)材料🅷相匹配的優質(zhi)聲阻(zu)(zu)抗(kang)

3.🦄外殼上有(you)螺紋，方便了(le)延遲塊、保(b🎃ao)護膜(mo)和防磨(mo)帽(mao)的(de)安裝(zhuang)

應用： 垂(chui)直聲束缺陷探測(ce)，厚度♉測(ce)量，高溫(wen)檢測(ce)，平板(ban)、坯材🎉、棒材及鍛(duan)件的檢測(ce)

水浸(jin)探(tan)頭(tou)：水浸探(tan)頭為(wei)單(dan)晶縱波探𒐪(tan)頭，其防磨面具有與水♌匹配的阻抗。水浸探(tan)頭裝在密封外殼 中，在與防水(shui)線纜一起使用(yong)時，可以(yi)浸(jin)泡在水(shui)面以(yi)下。由(you)于(yu)水(shui)浸(jin)探頭將(jiang)水(shui)用(yong)作(zuo)耦合(he)(he)劑和延遲 塊，因此💖針對必須(xu🍎)對工件(jian)施行持(chi)續耦合(he)(he)的(de)掃查應用(yong)來說(shuo)，這種探頭是一種*的探(tan)頭。水浸探(tan)頭還 有一個附(fu)加選項，即可以通過增加特(te)定區域的聲強同時(shi)減少聲💖束(shu)焦(jiao)點大小(xiao)的方式(shi)將聲束(shu)聚焦(jiao)。更多參數(shu)請資料(liao)工程(cheng)師(shi)索要詳細。

優勢特性：

1.水(shui)浸技術提供了一種均勻(yun)耦合的方法

2.四分之一波長匹配層增加了(le)聲(sheng)能的輸出(chu)

3.防腐蝕(shi)303不銹(xiu)鋼外殼帶(dai)有鍍鉻黃銅連接器

4.射頻屏(ping)蔽(bi)功能可提高關鍵(jian)性(xing)應用的信噪比(bi)

5.除了筆刷式探頭以外，所有水浸式探頭都(dou)可進行球形（點）或圓柱形（線）聚焦

6.聚(ju)焦長度會使聲束更集(ji)中，以提高檢測小反射體(ti)的(de)靈敏度

應用： 自動(dong)掃(sao)查(cha)，在線(xian)厚度測量，高速探測管(guan)道(dao)、棒材、管(guan)材、平板及其他類似部件中的缺(que)陷，基于渡越時(shi)🍷間和波(bo)幅的成(cheng)像功能🅷(neng)，穿透檢測，材料分析和聲速測量

使用注意事(shi)項：探頭浸于水中的時間不能超過8小時。探頭需要(yao)有16小時的干燥時間，以保證其使用壽命。

高頻(pin)探頭：高頻探(tan)(tan)頭(tou)包括(kuo)延遲塊൲探(tan)(tan)頭(tou)和聚焦水(shui)浸探(tan)(tan)頭(tou)。這些探(tan)(tan)頭(tou)的頻率(lv)范圍在(zai)20 MHz至225 MHz之間。高(gao)頻(pin)延遲塊探頭可以對(dui)厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料進行(xing)厚(hou)度測量(取決 于材料、探頭、表面(mian)條(tiao)件、溫度(du)和設置(zhi))。高頻聚(ju)焦水(shui)浸探頭是對硅(g▨ui)制微(wei)型芯片等(den🍸g)具有低衰(shuai)減(jian)性 的(de)薄材料(liao)進行高分辨率成像和缺陷(xian)探(tan)測應用的(de)*探頭。更多參數(shu)請資(zi)料工(gong)程師索要(yao)詳(xiang)細

優勢特性：

1.高阻尼寬(kuan)帶設(she)計提供(gong)了出色(se)的時間分辨率

2.較短的波長(chang)，可(ke)獲得缺(que)陷分辨率能力強

3.聚焦性能可以形成直徑非常小的(de)聲束(shu)

4.頻率范(fan)圍為20 MHz到225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯PAB-0503-45-AL-SM探頭