OLYMPUS奧林巴斯NEC-3015探頭

接觸式探頭：൩接觸式(shi)探頭(tou)是一個通常可生成縱波(bo)且與被測樣件直接接觸的單(dan)晶🦹探頭(tou)。所有(you)接觸式(shi)探頭(tou)都裝有(you)WC-5防磨(mo)面，不僅(jin)具(ju)有防磨(mo)效果(guo)，可(ke)(ke)以延(yan)長探頭壽命，還可𒐪(ke)(ke)以提(ti)供🔯適(shi)合于大多(duo)數(shu)金屬的聲阻抗。更(geng)多(duo)參數(shu)請資料(liao)工(gong)程(cheng)師索要詳細

優勢特性：

1.所有款式探(tan)頭都可在惡劣的工業環境中使用(yong)

2.聲阻抗與(yu)大多數(shu)金(jin)屬接近匹配

3.可用于(yu)檢測各(ge)種材料

應用： 垂(chui)直(zhi)聲(sheng)束缺陷(xian)探測和(he)厚度(du)測量(liang)(liang)，分層缺陷(xian)的探測和(he)定量(liang)(ꦑliang)，材料表征和(he)聲(sheng)速測量(liang)🌳(liang)，檢(jian)測平(ping)板、鋼(gang)坯(pi)、棒材、鍛件、鑄(zhu)件、擠壓件以(yi)及其他各種金(jin)屬和(he)非金(jin)屬部件，可在溫(wen)度(du)高達50°C的材料上連(lian)續使用(yong)

雙晶探頭：雙(shuang)晶(jing)探(tan)頭包含兩個(ge)縱(zong)波晶(jing)片(一個用作(zuo)發送器，另一個用作(zuo)接收器)，兩個晶片裝于同一(yi)個外殼中(zhong)，但中(zhong)間有(you)一(yi)層隔音屏障(zhang)。每個晶片都稍微向(xiang)另一(yi)個晶片傾斜(x💦ie)，目的是使從(cong)工件底 面反彈的信號以V形聲程傳播(bo)。雙晶(jin𒀰g)探頭在檢測嚴重腐蝕的(de)工件時一般都能提供更(geng)穩(w♓en)定(ding)的(de)讀數，而 且還可用于高溫環境(jing)。更多參數請資料工程師索要詳細

優勢特(te)性：

1.改(gai)進了(le)近(jin)表面分辨率

2.消除了高溫應(ying)用(yong)中加倍延(yan)遲塊的需要

3.在粗糙(cao)或彎曲表面(mian)上的耦合效果(guo)好(hao)

4.降低了粗顆粒材料或(huo)散(san)射材料中的直接背(bei)散(san)射噪聲

5.結合了低(di)頻單✅晶(jing)超聲探頭的(de)穿(chuan)透♏能(neng)力(li)與高頻單晶(jing)超聲探頭的(de)近表面(mian)分辨率(lv)能(neng)力(li)

6.可(ke)緊密貼附于曲面工件上

應用： 剩余壁(bi)厚測量(liang)，腐蝕/侵蝕監控，焊(han)縫覆(fu)蓋和堆焊(han)層的(de)粘(zhan)合(he)/脫粘檢測(ce𓃲)，探測(ce)鑄(zhu)件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋(wen)及分層等缺陷(xian)，探測(ce)螺栓或其他圓柱形(xing)部(bu)件中的裂紋(wen)；等于或小于5.0 MHz的(de)超聲探頭(tou)可承受的(de)最(zui)高溫度(du)為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的超聲探頭可承受的最(zui)高溫度為175°C。 對于(yu)表面溫(wen)度從90°C到425°C的(de)(de)工件，建(jian)議使用的(de)(de)工作周期為最多(duo)接觸10秒，然后(hou)至少在空氣中(zhong)冷(leng)卻1分(fen)鐘（不適用于微型端部(bu)雙晶超聲(sheng)探(tan)頭）

角度(du)聲束探頭：角度聲束探(ta⛦n)(tan)(tan)頭是(shi)一種與楔塊一起使(shi)用的(de)單晶探(tan)(tan)(tan)頭，可以(yi)所選的(de)角度將縱波(bo)或(huo)橫波(bo)發射到(dao)工件(jian)(jian)中。角度聲束探(tan)(tan)(tan)頭可以(yi)🦩對工件(jian)(jian)中垂(chui)直入射接觸式探(tan)(tan)(tan)頭的(de)超聲聲程無法(fa)到(dao)達的(de)區域進行 檢測。角(jiao)度(du)(du)聲(sheng)(sheng)束探(tan)頭一般(ban)用于焊(han)(han)縫(feng)檢測，因為(wei)如果(guo)使用標準(zhun)(zhun)接觸式探(tan)頭，焊(han)(han)冠會擋(dang)住聲(sheng)(sheng)波，使聲(sheng)(sheng)波無法到達希望檢測的焊(han)(han)縫(feng)區域(yu)，而且一般(ban)的缺陷對準(zhun)(zhun)操作會使角(jiao)度(du)(du)聲(sheng)(sheng)束產生更強的反射(she)信號༒。 更多(duo)參(can)數請資料工程(cheng)師(shi)索要詳細。

優勢特性(xing)：

1.我們Accupath楔塊(kuai)的三ღ種材料設計提(ti)高了(le)(le)信噪比性(xing)能，同時還表現了(le)(le)出色的耐(nai)磨性(xing)能

2.高溫楔(xie)塊可對高溫材料進(jin)行在(zai)役檢(jian)測(ce)

3.楔(xie)塊(kuai)可自行定制，以創建非(fei)標準的折射(she)角度

4.提供可(ke)互(hu)換式或整體(ti)式設計(ji)

5.提供弧面外形

6.可(ke)提供鋁制(zhi)帶有標準(zhun)折射角度的楔(xie)塊和(🗹he)整𒈔(zheng)體式設計

應用： 缺(que)陷探測(ce)與定量，衍射時差探頭(tou)，檢測(ce)管道、管材(cai)、🐲鍛件(jian)、鑄(zhu)件(jian)、機加工部件(jian)和結構部件(jian)，以探測(ce)到焊接缺(que)陷或裂紋。

延遲塊探頭：♉延(yan)遲塊探(tan)頭為單晶寬(kuan)帶接(jie)觸式(shi)探(tan)頭，其(qi)te殊的(de)結(jie)構設計是在探頭൲晶片(pian)前插有塑料(liao)(liao)或(huo) 環氧材(cai)料(liao)(liao)制(zhi)成的(de)一個薄片(pian)。延遲塊改進了(le)工件近表面缺陷的(de)分辨率，可以(yi)測量更薄的(de)材(cai)料(liao)(liao🌸)厚度， 并能(neng)提供更jing確的厚度測量結果(guo)。延(yan)遲塊(kuai)可根據工件(jian)的表面幾何形狀緊貼(tie)在工件(jian)上，而且還可 用(yong)(yong)于高(gao)溫應用(yong)(yong)中。更多(duo)參(can)數(shu)請資料(liao)工程(cheng🍷)師索要(yao)詳細。

優勢特性：

1.高阻尼探頭加上延遲(chi)塊可以提供出色的近場分辨率(lv)

2.更高(gao)的探(tan)頭頻率可提(ti)高(gao)分辨率

3.直接接觸法(fa)的使用提高了測量(liang)薄材(cai)料(liao)及發(fa)現細(xi)小缺陷的🍰能力

4.提(ti)供弧(hu)面外形，以適用于曲面工件

應用(yong)： 精確(que)測(ce)厚，垂直(zhi)聲束缺陷探測(ce)，對(dui)接觸區(qu)域有限的(de)工件進行檢測(ce)，可更換式延(yanไ)遲塊探頭(tou)(tou)，🌜每個探頭(tou)(tou)的(de)標準配置都(dou)包(bao)含一(yi)個延(yan)遲塊和(he)固(gu)定環(huan)，提(ti)供高溫延(yan)遲塊和(he)干耦(ou)合延(yan)遲塊，探頭(tou)(tou)及(ji)延(yan)遲塊端部之間需要耦(ou)合劑

保護面探頭(tou)：保(bao)護(hu)面探頭為(wei)一種帶有螺紋外(wai)殼(ke)護(hu)套(tao)的單晶縱波探頭，📖可以安裝(zhuang)延遲塊、防磨帽或 保⭕護膜。這個特點增強了探(tan)頭的靈活通(tong)用性，可使這種探(tan)頭用于范圍(wei)* 為廣泛(fan)的(de)應用中。 保護面探頭還(huan)可用作直接🔯(jie)(jie)接(jie)(jie)觸式探頭，檢(jian)測(ce)橡膠(jiao)或塑料等低阻抗(kang)材料，以改進聲阻抗(kang)的(de)匹配(pei)效果。更多(duo🍨)參數請資料工程師(shi)索要(yao)詳細。

優勢特(te)性：

1.通(tong)過提供(gong)可拆(chai)裝延(yan)遲塊(kuai)、保護(hu)防(fang)磨帽和保護(hu)膜(mo)，使探頭具(ju)有廣泛的用途(💎tu)

2.探(tan)頭單獨使(shi)用時（沒有任何選項），環(huan)氧防磨面可提供與塑料、多種復合材(cai)(cai𓄧)料及其他低阻抗材(cai)(cai)料相匹(pi)配的(🐼de)優質聲阻抗

3.外殼(ke)上有螺紋，方便了延遲塊、保護膜和防磨帽(mao)的安裝

應用： 垂(chui)直(zhi)聲束缺陷探(tan)測(ce)，厚(hou)度測(ce)量(liang)🌊，高(gao)溫檢測(ce)，平板(ban)、坯材、棒材及鍛件的檢測(ce)

水(shui)浸探頭：水(shui)浸(jin)探(tan)頭(tou)為單(dan)晶縱波探(t🍨an)頭(tou)，其(qi)防磨面(mian)具有(you)與水(shui)匹配的阻(zu)抗。水(shui)浸(jin)探(tan)頭(tou)裝在密(mi)封外殼 中，在(zai)(zai)與(yu)防水線纜一起(qi)使用時，可(ke)以浸泡在(zai)(zai)水面以下。由于水浸探頭(tou)將水用作耦合(he)劑和延遲 塊，因🙈此針對必須對工件施行持續耦合(he)的(de)掃查應用來說，這種探頭(tou)是一種*的(de)探(tan)頭(tou)。水浸探(tan)頭(tou)還 有(you)一個附加(jia)選(xuan)項，即(ji)可以通(tong)過增加(jia)特定區(qu)域的(de)聲(sheng)強同(tong)時減少聲(sheng)束焦(jiao)點(dian)大小的(de)方式將聲(sheng)束聚焦(jiao)。更✨多參數請資(zi)料工程師索要詳(xiang)細。

優(you)勢特性：

1.水浸(jin)技術提供了一種均勻耦合(he)的方(fang)法

2.四分之一波長匹(pi)配(pei)層增加了(le)聲能的輸出

3.防腐蝕(shi)303不(bu)銹鋼外殼帶有鍍鉻黃(huang)銅(tong)連接器

4.射頻(pin)屏蔽功能可提高關鍵性應用的信(xin)噪比

5.除了筆刷式探(tan)頭以外，꧂所(suo🐼)有(you)水浸(jin)式探(tan)頭都可進行球形(xing)（點(dian)）或圓柱形(xing)（線(xian)）聚焦

6.聚(ju)焦長度(du)會使(shi)聲束更(geng)集中，以提高檢測小反射體的靈敏度(du)

應用： 自(zi)動(dong)掃查，在(zai)線厚(hou)度(du)測(ce)量，高速探測(ce)管道、棒材、管材、平板及其他(ta)類似部(bu)件中(zhong)的缺陷，基于渡越時(shi♔)間和(he)波幅的𒈔成像功能(neng)，穿透檢測(ce)，材料分析和(he)聲速測(ce)量

使用注意事項：探頭浸(jin)于水(shui)中的時(shi)間(jian)不能超過(guo)8小時(shi)。探頭需要有16小時的干燥時間，以保證(zheng)其使用壽命。

高頻探頭：高頻探(tan)頭(tou)包括延ꦕ遲(chi)塊探(tan)頭(tou)和聚焦水(shui)浸探(tan)頭(tou)。這些探(tan)頭(tou)的頻率范圍在20 MHz至225 MHz之間。高頻延遲塊探頭(tou)可以對厚度薄(bo)如0.010毫米(0.0004英寸)的材料進(jin)行厚度測(ce)量(liang)(取決 于材料、探頭(tou)、表(biao)面條件、溫度和設置)。高頻聚焦水浸探(tan)頭是對硅(gui)制微(wei)型芯片等具有低衰減(jian)性 的(de)薄材料(liao)進行高分(fen)辨率成像和缺陷探測(ce)應用(yong)的(de)*探頭(tou)。更多參(can)數請資料工(gong)程師索要(yao)詳細

優勢特性：

1.高阻尼(ni)寬帶設計提供了出(chu)色的時間分辨率

2.較(jiao)短(duan)的(de)波長，可獲(huo)得缺陷分辨率能力強

3.聚(ju)焦性能可(ke)以形(xing)成直徑非常小的(de)聲束(shu)

4.頻率范圍為(wei)20 MHz到225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯NEC-3015探頭