OLYMPUS奧林巴斯5DL32-19.2X12-0L-A5-P-5-OM-CHENGDU探頭

接觸(chu)式(shi)探頭：接(𒀰jie)觸(chu)式(shi)探(tan)頭是一個通常可生成(cheng)縱波且與被(bei)測樣件直𒁏接(jie)接(jie)觸(chu)的單晶(jing)探(tan)頭。所有(you)接(jie)觸(chu)式(shi)探(tan)頭都裝有(you)WC-5防(fang)磨(mo)面，不僅具有防(fang)磨(mo)效(xiao)果(guo)，可以(yi)延(yan)長探頭(tou)壽命，還可以(yi)提供適合(he)于大多數金屬的(de)聲⭕(sheng)阻抗(kang)。更多參數請資ꦍ料工程師(shi)索(suo)要詳細

優勢特性：

1.所有款式探頭都可(ke)在惡(e)劣的工業環境中使用(yong)

2.聲阻抗與大(da)多數金屬接近匹配

3.可用于檢(jian)測各種材料

應(ying)用： 垂直聲(sheng)束缺陷探(tan)測和(he)厚度測量(liang)(liang)，分層缺陷的探(tan)測和(he)定量(liang)(liang)，材(cai)料(liao)表征(zheng)和(he)聲(sheng)速測量(liang)(liang)，檢測平板(ban)、鋼(gang)坯(pi)、棒材(cai)、鍛(duan)件(jian)、鑄🌟(zhu)件(jian)、擠壓件(jian)以及其他各種金(jin)屬(shu)和(he)非金(jin)屬(shu)部件(jian)，可在溫(wen)度高達50°C的材(cai)料上(shang)連續使用

雙晶探頭(tou)：雙晶探頭包含(han)兩個縱波晶片(一個用作發(fa)送(song)器(qi)，另(ling)一個用作接收器(qi))，兩(liang)個晶片(pian)裝于同一個外(wai)殼中，但中間有一層隔音🎉屏障。每個晶片(pian)都稍(shao)微向另一個晶片(pian)傾斜，目的是使從(cong)工件(jian)底 面反彈的信號以V形聲程(cheng)傳(ch🤡uan)播。雙晶探頭在(zai)檢測嚴重腐蝕的工件時一(yi)般都能(neng)🃏提供(gong)更穩定的讀(du)數，而 且還(huan)可用于高溫環(huan)境。更多參數(shu)請資(zi)料工程師索要詳細(xi)

優(you)勢特性(xing)：

1.改進(jin)了近表(biao)面分辨率

2.消(xiao)除了(le)高(gao)溫應用中加(jia)倍延遲塊(kuai)的需(xu)要

3.在粗糙或彎曲表面上的耦合效果(guo)好

4.降低(di)了粗顆粒材料或(huo)散射(she)材料中的直接背散射(she)噪聲

5.結合了低頻單(dan)晶(jing)超(ch🔴ao)聲探頭的穿透能力與(yu)高(gao)頻單(dan)晶(jing)超(cꦺhao)聲探頭的近表面分辨率(lv)能力

6.可緊密貼附于曲面工件上

應用(yong)： 剩(sheng)余壁厚測量，腐蝕/侵蝕監控，焊縫覆蓋和堆焊層(ceng)的粘(zhan)合/脫粘檢(jian)測(ce)(ce)，探測(ce)(ce)鑄件(jian)(jian)(jian)和(he)鍛ᩚᩚᩚᩚᩚᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ⁤⁤⁤⁤ᩚ𒀱ᩚᩚᩚ件(jian)(jian)(jian)中的多孔性、夾雜物、裂紋及(ji)分層等缺陷，探測(ce)(ce)螺栓或其他圓(yuan)柱形(xing)部(bu)件(jian)(jian)(jian)中的裂紋；等于或小于5.0 MHz的(de)超聲探頭可承受的(de)最高溫(wen)度為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的(de)(de)超聲探頭可承受的(de)(de)最(zui)高溫(wen)度為175°C。 對于表面溫度從90°C到(dao)425°C的工件(jian)，建(jian)議(yi)使用的工作(zuo)周期為最多接觸(chu)10秒，然后(hou)至(zhi)少在空氣(qi)中冷卻1分鐘（不(bu)適(shi)用于(yu)微型端部雙晶超聲探(tan)頭）

角(jiao)度聲束探頭：角度聲束探(tan)頭是(shi)一種(zhong)與楔塊(kuai)一起(qi🌠)使用的(de)單晶探(tan)頭，可以(yi)所選(xuan)的(de)角度將縱波或橫(heng)波發射(she)到工件🍃中。角度聲束探(tan)頭可以(yi)對(dui)工件中垂直入射(she)接觸式探(tan)頭的(de)超(chao)聲聲程無(wu)法到達的(de)區域進(jin)行 檢(jian)測(ce)。角度聲束探(tan)頭一般用于焊꧙縫(feng)檢(jian)測(ce)，因為如果(guo)使(shi)用標準接(jie)觸式探(tan)頭，焊冠會擋住聲波，使(shi)聲波無法(fa)到達希⛄望檢(jian)測(ce)的(de)焊縫(feng)區域(yu)，而且(qie)一般的(de)缺(que)陷對準操(cao)作會使(shi)角度聲束產生更強(qiang)的(de)反(fan)射信號。 更(geng)多參(can)數請資料工程師索要(yao)詳細(xi)。

優(you)勢(shi)特性(xing)：

1.我們Accupath楔(xie)塊(kuai)的(de)三種材料(liao)設計提(ti)高(gao)了信噪比(biꦑ)性能🥃，同時還表現了出(chu)色的(de)耐磨性能

2.高(gao)溫楔塊可對高(gao)溫材料進(jin)行在役檢測

3.楔(xie)塊可自(zi)行定(ding)制，以創建(jian)非標準(zhun)的折射角度

4.提供可互換式或整體式設計

5.提供(gong)弧(hu)面外形

6.可提供鋁制帶有(you)標準折射角(jiao)度的楔塊(kuai)和整體式(shi)設計

應用： 缺陷探測(ce)與(yu)定(ding)量，衍射時(shi)差探頭，檢測(ce)✅管道、管材、鍛件(jian)、鑄(zhu)件(jian)、機加(jia)工部(bu)件(jian)和結構(gou)部(bu🐻)件(jian)，以探測(ce)到焊接缺陷或裂(lie)紋。

延遲(chi)塊探頭：延(yan)遲塊探頭(tou)(tou)為單晶寬帶(dai)接觸式探頭(tou)(tou)，其te殊的(de)結構設計是在(zai)探頭(tou)晶片前插有塑料或 環(huan)氧材(cai)料制成的(de)一個☂薄片。延遲塊改進了工件近表🍷面缺(que)陷(xian)的(de)分辨率(lv)，可以測(ce)量(liang)更(geng)薄的(de)材(cai)料厚度， 并能提供更jing確的厚度測量結果。延遲(chi)塊(kuai)可根據工ꦫ件(ji♌an)的表面幾何形狀緊貼在(zai)工件(jian)上(shang)，而且還可 用于高溫應用中。更多參數請資料工程師索(suo)要詳細。

優勢特性：

1.高阻尼探(tan)頭加上延遲塊可以提(ti)供出色的近場分辨率

2.更高(gao)(gao)的探頭(tou)頻率可提高(gao)(gao)分辨率

3.直接接觸法的使用提高了測量薄材料及發現(xian)細小缺陷的能力(li)

4.提(ti)供(gong)弧(hu)面外形，以適用于(yu)曲(qu)面工件

應用： 精確測厚(hou)，垂直(zhi)聲束(shu)缺陷探測，對接觸區域有限(xian)的ꦰ工件進行檢測，可更換式延遲塊探頭(tou)(tou)，每個探頭(tou)(tou)的標準(zhun)配置都包含一個延遲塊和固定環(huan)，提供高溫延遲塊和干(gan)耦(ou)(ou)合(he)(he)延遲塊，探頭(tou)(tou)及延遲塊端部之間需要(yao)耦(ou)(ou)合(he)(he)劑

保護(hu)面探頭(tou)：保護面探(taꦡn)頭為一種帶有螺(luo)紋外🎶(wai)殼護套的單(dan)晶縱波探(tan)頭，可(ke)以安裝延遲塊、防磨帽或 保護膜。這(zhe)個特(ꦦte)點增(zeng)強(qiang)了(le)探頭(tou)的靈活(huo)通用性，可使這(zhe)種探頭(tou)用于范圍* 為廣🌃泛的應(ying)用中。 保護面探頭(tou)還(ꩲhuan)可用作(zuo)直(zhi)接接觸(chu)式探頭(tou)，檢測(ce)橡膠或塑料(liao)(liao)等低阻抗(kang)材(cai)料(liao)(liao)，以改進聲阻抗(kang)的匹(pi)配效果。更(geng)多參數請資(zi)料(liao)(liao)工程(cheng)師索要詳細。

優勢特性(xing)：

1.通過提(ti)供可拆(cha🍬i)裝延遲塊、保護(𝔍hu)防磨帽和保護(hu)膜，使探頭(tou)具有廣泛的用途(tu)

2.探頭(tou)單(daಌn)獨使𒊎用(yong)時（沒有任何選項），環氧防磨面可提供(gong)與塑料、多種復合材料及其他低(di)阻(zu)抗材料相匹配的優質(zhi)聲阻(zu)抗

3.外殼上有螺紋，方便了延遲塊、保護膜和防磨帽的安裝

應用： 垂(chui)直聲束缺(que)陷探測(ce)(ce)(ce)，厚(hou)度測(ce)(ce)(ce)量，高(gao)溫檢測(ce)(ce)(ce)，平板、坯材、棒材及(☂ji)鍛件的檢測(ce)(ce)(ce)

水浸探頭(tou)：水(shui)浸探頭為單(dan)晶(jing)縱波探頭，其防(fang)🐽磨面(m🔴ian)具有與水(shui)匹(pi)配的阻抗。水(shui)浸探頭裝在密封外(wai)殼 中(zhoཧng)，在與(yu)防水(shui)線纜一起使用時，可以(yi)浸(jin)泡在水(shui)面以(yi)下。由于水(shui)浸(jin)探頭將(jiang)水(shui)用作耦合劑(ji)和延(yan)遲 塊(kuai)，因此針對必須對工(gong)件施行持續耦合的掃查應用來說(shuo)，這(zhe)種(zhong)探頭是一種(zho🌞ng)*的(de)探(tan)頭。水浸探(tan)頭還 有一個附加(jia)選項，即可以通過增(zeng)加(jia)特定(ding)區域的(de)聲(sheng)強同(tong)時減(jian)少聲(sheng)束(shu)焦(jiao)點大小的(de)方(fang)式將聲(sheng)束(shu)聚焦(jiao)。更多參數請(qing)🍒資料工程(cheng)師索(suo)要詳細(xi)。

優勢特性：

1.水(shui)浸技術提供了(le)一(yi)種均勻耦合的方法

2.四分之(zhi)一波長匹配層增(zeng)加了(le)聲(sheng)能的輸出(chu)

3.防腐蝕303不銹鋼外殼帶有鍍鉻(ge)黃(huang)銅連接器

4.射(she)頻屏蔽功能可(ke)提高關鍵性應用的(de)信(xin)噪比

5.除了🐟(le)筆(bi)刷式探頭以(yi)外，所(suo)有水浸式探頭都可進行球形(xing)（點）或圓柱形(xing)（線）聚焦

6.聚焦(jiao)長度會使聲束(shu)更集(ji)中(zhong)，以提高檢測小反射體的靈敏度

應用： 自(zi)動(🐟dong)掃查，在線厚度測(ce)量，高速探(tan)測(ce)管道、棒材、管材、平板及其他類似部(bu)件中的缺陷，基于渡越時間(jian)和(he)波幅的成像(xiang)功能，穿透檢測(ce)，材料(liao)分析和(he)聲速測(ce)量

使用注意事項：探頭浸(jin)于水(shui)中的(de)時間不能超過8小時。探頭需要有16小時的干燥時間，以保證其使用壽命。

高(gao)頻探(tan)頭：高(gao)頻(pin)探頭包括(kuo)延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的(de)頻(pin🔯)率范圍(wei)在20 MHz至225 MHz之間。高頻延遲塊(kuai)探(tan)頭可以(yi)對厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料進(jin)行厚度測量(取決(jue) 于材料、探(tan)頭、表面條件、溫度和設(she)置)。高頻聚(ju)焦水浸探頭是(shi)對硅制微(wei)型芯片等具(ju)有低衰減性 的薄材料進(jin)行高分辨率成(cheng)像和缺(que)陷探(tan)測應用的*探頭。更(geng)多參數請資(zi)料(liao)工(gong)程(cheng)師索要詳細

優(you)勢特性：

1.高阻(zu)尼寬帶設計提(ti)供(gong)了出色的時間分辨率

2.較短的(de)波(bo)長，可(ke)獲得缺陷分辨率能力強

3.聚焦(jiao)性能(neng)可以形(🎐xing)成直(zhi)徑(jing)非常(chang)小的(de)聲(sheng)束

4.頻率范(fan)圍為20 MHz到225 MHz

OLYMPUS奧林巴斯5DL32-19.2X12-0L-A5-P-5-OM-CHENGDU探頭