OLYMPUS奧林巴斯5CCEV35-16-8X10-A15-P-2.5-OM探頭

接觸式探頭(tou)：接(jie)觸(chu)式探(tan)頭(tou)(tou)是一個通(tong)常可生(sheng)成縱波且與被測樣件直接(jie)接(jie)觸(chu)的(de)單晶探(tan)頭(tou)(tou)。所有接(j𝔉ie)觸(chu)式探(tan)頭(to𒐪u)(tou)都裝有WC-5防(fang)磨(mo)面，不僅具有防(fang)磨(mo)效果(🃏guo)，可以(yi)延(yan)長探(tan)頭(tou)壽命(ming)，還可以(yi)提供(gong)適合(he)于大(da)多數(shu)金(jin)屬的聲(sheng)阻抗。更多參數(shඣu)請(qing)資料工程師索(suo)要詳(xiang)細

優勢特(te)性(xing)：

1.所有款式探頭都可在惡劣的(de)工(gong)業(ye)環境中使用

2.聲阻(zu)抗與大多(duo)數金屬接近(jin)匹配

3.可(ke)用于檢測各種材料

應用(yong)： 垂(chui)直聲(sheng)束𒉰缺陷(xian)探測和(he)厚度測量(liang)，分層(ceng)缺陷(xian)的(de)探測和(♏he)定(ding)量(liang)，材料表征和(he)聲(sheng)速測量(liang)，檢測平板、鋼坯、棒材、鍛(duan)件、鑄件、擠壓件以及其他各種金屬和(he)非金屬部(bu)件，可在溫度高達50°C的材(cai)料(liao)上(shang)連續(xu)使用

雙晶探頭：雙(shuang)晶(jing)(jing)探(tan)頭(tou)包含兩個縱波晶(jing)(jing)片(piꩵan)(一個用作(zuo)發送器(qi)(qi)，另一個用作(zuo)接(jie)收器(qi)(qi))，兩(liang)個(ge)晶片裝于同(tong)一個(ge)外殼中(zhong)，但中(zhong)間(jian)有一層隔(ge)音屏障。每個(ge)晶片都稍微(wei)向另一個(ge)晶片傾斜，目的(de)是使(shi)從(cong)工件底 面反彈(dan🐭)的(🉐de)信號以V形聲程(chen﷽g)傳播。雙晶探頭在檢測嚴(yan)重腐蝕的工件時一般都(dou)能提供更穩(wen)定的讀數，而 且還(huan)可𒉰用(yong)于高溫環境。更多參數請(qing)資料(liao)工(gong)程師(shi)索要詳(xiang)細

優勢特性：

1.改(gai)進了近(jin)表面分辨(bian)率(lv)

2.消除了高溫(wen)應用(y꧙ong)中加(jไia)倍(bei)延(yan)遲(chi)塊(kuai)的需要

3.在粗糙或(huo)彎(wan)曲表面上的耦合效果好

4.降低了粗顆粒材(cai)料(liao)或散射材(cai)料(liao)中的直接背(bei)散射噪聲

5.結合了低(di)頻單晶(jing)超(chao)聲(she༺ng)(sheng)探頭(tou)的穿透(tou)能力(li)與高頻單晶(jing)超(chao)聲(sheng)(sh💟eng)探頭(tou)的近表(biao)面(mian)分辨率能力(li)

6.可(ke)緊密貼附于曲(qu)面工(gong)件(jian)上(shang)

應用(yong)： 剩余壁厚(hou)測量，腐(fu)蝕/侵(qin)蝕監(jian)控，焊(han)縫覆蓋和堆焊(han)層的粘合/脫粘檢測(ce)(ce)，探測(ce)(ce)鑄件(jian)和鍛件(jian)中的(de)多(duo)孔(kong)性(xing)、夾雜物𒐪、裂紋及分層等缺陷，探測(ce)(ce)螺栓或(huo)其他(ta)圓(yuan)柱(zhu)形部件(jian)中的(de)裂紋；等于或🔴(huo)小于5.0 MHz的超聲探頭可承受(shou)的最高溫(wen)度為425°C； 7.5 MHz和10 MHz的超聲探頭可承受的最高(gao)溫度為175°C。 對于表(biao)面溫(wen)度(du)從90°C到425°C的工件(jian)，建議(yi)使用的工作(zuo)周期為最多接觸10秒，然后(hou)至(zhi)少(shao)在(zai)空氣中冷(leng)卻(que)1分鐘（不適用于微型(xing)端部雙晶超聲探頭）

角度聲束探頭：角(jiao)度(du)(du)聲(sheng)束探頭(tou)是一種與(yu)楔塊(kuai)一起使用的單晶探頭(tou)，可以(yi)所選的角(jiao)度(du)(du)將縱波或橫波發射到(dao)工(gong)件中(zhong)。角(jiao)度(du)(du)聲(sheng)束探頭(tou)可以(yi)對工(gong)件中(zh𒆙ong)垂直入射接(jie)觸(chu)式探頭(tou)的ꦇ超聲(sheng)聲(sheng)程無法到(dao)達(da)的區域(yu)進行 檢(jian)(jian)測(ce)(ce)。角💫(jiao)度(du)聲(sheng)(sheng)束(shu)探頭一(yi)般用于焊縫檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，因為如果使用標準接(jie𝔍)觸式探頭，焊冠會(hui)擋(dang)住聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，使聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)無法到達希望(wang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的焊縫區域，而(er)且一(yi)般的缺陷對準操作會(hui)使角(jiao)度(du)聲(sheng)(sheng)束(shu)產生更強的反射(she)信(xin)號(hao)。 更多參數請資料工程師索(suo)要詳(xiang)細。

優勢特性：

1.我們Accupath楔(xie)塊(kuai)的😼(de)三種材料設(she)計提高了信噪比(bi)性(xing)能，同時還表現了出色的(de)耐磨性(xing)能

2.高溫楔塊(kuai)可對高溫材(cai)料進(jin)行在役檢測(ce)

3.楔塊可自行定制，以(yi)創建(jian)非標(biao)準的折(zhe)射角度

4.提供可互換式(shi)或(huo)整(zheng)體式(shi)設計

5.提供弧面外(wai)形

6.可提供鋁(l💖v)制帶(dai)有(you)標準折射(she)角(ji𝓡ao)度(du)的楔塊和整體(ti)式設計

應用(yong)： 缺陷探測(ce)與(yu)定(ding)量，衍(yan)射時差探頭，檢測(ce)管道、管材、鍛件、鑄(zhu)件、機加工部(bu)件和結(jie)構部(bu)件，ﷺ以探測(🍨ce)到焊接缺陷或裂紋。

延遲塊探頭：延遲塊(kuai)探頭(tou)為(wei)單晶寬帶接觸式探頭(tou)，其(qi)te殊的結構設計是在探頭晶(jing)片(pian)前插有(you)塑料(liao)(l𝔍iao)或 環氧(yang)材(cai)料(liao)(liao)制成的一個(ge)薄片(pian)。延(yan)遲塊改(gai)進了(le)工件近表面(mian)缺陷的分辨率(ꦚlv)，可以測量更薄的材(cai)料(liao)(liao)厚度， 并(bing)能提供(gong)更jing確(que)的厚(hou)度測量結果。延遲塊可根據(ju)工(gong)件的表(biao)面幾何形狀緊貼在工(gong)件上，而且還(huan)可 用于高溫應用中。更(geng)多參數請資料工(gong)程(cheng)師索(suo)▨要詳細。

優勢特性(xing)：

1.高阻尼探頭加上延遲塊可以提供(gong)出色的近場分辨率

2.更高的探頭頻率(lv)可提高分辨率(lv)

3.直接接觸(chu)法的(de)使用提高了測量ไ(liang)薄材(cai)料(liao)及發現細小缺陷的(de)能力

4.提供弧面外(wai)形(xing)，以適用于曲面工(gong)件

應用(yong)： 精確測厚，垂直聲束缺陷探測，對(dui)接觸(chu)區(qu)域有限的工件進(jin)行檢測，可更換式延(yan)(yan)遲(chi)塊探頭(tou)(tou)，每個(ge)探頭(tou)(tou)的標準配置(zhi)都(dou)包含一個(ge)延(yan)(yan)遲(chi)塊和(he)(he)固定(ding)環，提(ti)供高溫(wen)延(ya🔜n)(yan)遲(chi)塊和(he)(he)干耦(ou)合延(yan)(yan)遲(chi)塊，探頭(tou)(tou)及延(yan)(yan)遲(chi)塊端部之間需要耦(ou)合劑

保護面探頭：保護(hu🥂)面探(tan)頭為(wei)一種(zhong)帶有(you)螺紋(wen)外殼護(hu)套的(de)單晶縱波探(tan)頭，可以安(an)裝延遲塊、防磨(mo)帽(mao)或 保護膜。這個特點增強了探頭的靈活通(tong)用性(xing)，可使(shi)這種探頭用于范圍* 為廣(guang)泛的應用中。 保(bao)護面探頭還可(ke)用作直(zhi)接接觸式探頭，檢測(ce𒐪)橡膠(jiao)✃或塑料等低阻抗材料，以改進聲阻抗的匹配(pei)效果。更多參(can)數請資料工程(cheng)師索要詳細。

優勢特性(xing)：

1.通ꦺ過提供可拆裝(z༺huang)延(yan)遲塊(kuai)、保護防磨帽和保護膜，使探頭具有廣泛的用(yong)途

2.探頭單獨使用𒉰時（沒(mei)有任何選項），環氧防磨面可提供與塑料(liao)、多(duo)種復合(he)材(cai)料(liao)及其他低(di)阻抗材(cai)料(liao)相匹配的優質聲阻抗

3.外殼上有(you)螺紋，方便了延遲塊、保(bao)護膜和防磨帽的(de)安(an)裝

應用： 垂直(zhi)聲束缺陷探測，厚度測量，高溫檢(jian)♋測，平板、坯(pi👍)材(cai)(cai)、棒材(cai)(cai)及(ji)鍛件(jian)的檢(jian)測

水(shui)浸探頭：水(shui)(shui)浸(jin)探(tan)頭為單晶縱波探(t﷽an)頭，其(qi)防(fang)磨面具有與水(shui)(shui)匹(pi)配的阻抗。水(shui)(shui)浸(jin)探(tan)頭裝在密封外殼 中(zhong)，在與防水(shui)線纜一起使用(yong)時，可以浸泡在水(shui)面以下。由于水(shui)浸探(tan)頭(tou)將(jiang)水(shui)用(yong)作耦合(he)劑和(he)延遲(chi) 塊(kuai༒)，因此(ci)針(zhen)對必須對工件施行持續耦合(he)的掃(sao)查應用(yong)來說(shuo)，這種(zhong)探(tan)頭(tou)是一種(zhong)*的(de)探頭(tou)。水浸探頭(tou)還 有一個(ge)附加選項，即可以通過增加特定區(qu)域(yu)的(de)聲(sheng)強同時減少聲(sheng)束焦(jiao)點大小的(de)方(fang)式將聲(sheng)束聚焦(jiao)。更多參(can)數請(qing)資料(liao)工(gong)程師索ꦛ(suo)要詳(xiang)細。

優勢特性：

1.水(shui)浸技(ji)術提(ti)供(gong)了(le)一種均(jun)勻耦合的方法

2.四分之(zhi)一波長匹(pi)配(pei)層增加了聲能的輸出

3.防腐蝕303不(bu)銹鋼(gang)外殼帶有鍍鉻黃銅連接器

4.射(she)頻(pin)屏蔽功(gong)能(neng)可提(ti)高關鍵性應用的信噪比

5.除了筆刷式探頭以外，所有水(shui)浸式探頭都可進行球形(xing)（點）或圓(yuan)柱形(xin🐭g)（𒅌線(xian)）聚焦

6.聚焦長度(du)會(hui)使(🐟shi)聲束更(geng)集中(zhong)，以提高檢測(ce)小反射體(ti)的靈敏(min)度(du)

應用： 自動掃查，在線厚度測(ce)(ce)量(liang)，高(gao)速探測(ce)(ce)管道、棒(bang)材、管材、𒉰平(ping)板及其他類似部件中的(de)缺陷，基于渡越時(shi)間和波幅的(de)成像功(gong)能，穿(chuan)透檢☂測(ce)(ce)，材料分析和聲速測(ce)(ce)量(liang)

使(shi)用注(zhu)意事項：探(tan)頭(tou)浸(jin)♓于水(shui)中的時間不ಞ能超過8小時。探(tan)頭(tou)需要有(you)16小時的干燥時間，以保證(zheng)其使用壽命。

高(gao)頻探頭：高頻(pin)探頭(tou)包括🦩延遲塊探頭(tou)和聚焦水(shui)浸探頭(tou)。這些(xie)探頭(tou)的頻(pin)率范圍在20 MHz至(zhi)225 MHz之間(jian)。高頻延遲塊探(tan)頭(tou)可以對厚度薄如0.010毫米(mi)(0.0004英寸(cun))的材料進(jin)行厚度測(ce)量(取(qu)決 于材料、探(tan)頭、表面條件、溫度(du)和(he)設置(zhi))。高(gao)頻聚焦(jiao)水浸(jin)探🎶頭是對硅制(zhi)微型(xing)芯片等具(ju)有(you)低衰減性 的薄材料進行高分辨率成像(xiang)和缺陷探測應用的*探頭(tou)。更(geng)多參數(shu)請資(zi)料工程師(shi)索要詳細

優勢特(te)性(xing)：

1.高阻尼寬帶(dai)設計提(ti)供了出色的(de)時間分(fen)辨率(lv)

2.較短的波長，可獲(huo)得缺陷分辨率能力(li)強

3.聚焦性能(neng)可以形成直徑非常小的(de)聲束

4.頻率范圍為20 MHz到225 MHz

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